一种基于激光测距的转台调平装置及调平方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于激光测距的转台调平装置及调平方法，该转台调平装置包括激光测距装置、悬架和反射镜；悬架的底端固定于转台的台面上；激光测距装置通过悬垂线悬挂于悬架的顶端；反射镜设置于转台的台面上或者设置于转台的顶端开口、底端封闭的投射孔的底端；激光测距装置的底端与反射镜的位置相对，使得激光测距装置的发射器发出的激光光线能够照射到反射镜上；激光测距装置包括发射器、控制电路、接收器和鉴相器。所述转台调平装置不需要使用电子水平仪，从而能够避免周围环境对调平结果的干扰，可靠性较高；能够避免电子水平仪内部的开关电源将产生电磁辐射，避免对置于转台上的测试设备例如导弹惯导测试设备产生电磁干扰。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
基于激光测距的转台调平装置，其特征在于，该转台调平装置包括激光测距装置(4)、悬架(3)和反射镜(6)；所述悬架(3)的底端固定于转台(1)的台面上；所述激光测距装置(4)通过悬垂线(5)悬挂于所述悬架(3)的顶端；所述反射镜(6)设置于转台(1)的台面上或者设置于转台(1)的顶端开口、底端封闭的投射孔(2)的底端；所述激光测距装置(4)的底端与所述反射镜(6)的位置相对，使得所述激光测距装置(4)的发射器(41)发出的激光光线能够照射到所述反射镜(6)上；所述激光测距装置(4)包括：发射器(41)，用于接收来自控制电路(42)的发射激光指令信号后发射出入射光线；控制电路(42)，用于向所述发射器(41)发送发射激光指令信号，还用于根据反射光线与入射光线的相位差得到所述反射镜(6)与所述激光测距装置(4)之间的距离；接收器(44)，用于接收来自所述反射镜(6)的反射光线并将其发送给鉴相器(45)；以及鉴相器(45)，用于识别反射光线的相位，然后通过比较入射光线和反射光线的相位获得反射光线与入射光线的相位差，再将反射光线与入射光线的相位差发送给控制电路(42)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王蕾蕾，马晓东，顾彬彬，
申请(专利权)人：北京电子工程总体研究所，
类型：发明
国别省市：