一种可寻址测试芯片版图的生成方法技术

本发明专利技术涉及集成电路测试芯片领域，公开了一种可寻址测试芯片版图的生成方法，包括以下步骤：（1）选择IP；（2）根据设计规则将测试结构摆放成阵列；（3）IP和测试结构阵列自动连接绕线产生测试芯片版图。本发明专利技术根据可寻址测试的优点及测试程序根据设计信息自动生成，故测试速度迅速且测试结果精确；本发明专利技术生成的软件可以应用到行业内标准的参数测试机中；本发明专利技术测试精度可达到pA级。本发明专利技术自动化生成不仅大大缩短了测试芯片的开发时间，降低了人力成本、避免了人工绘图带来的设计错误，还提高了可寻址测试芯片的可延展性和重复使用力，为快速应对制程变更、工艺节点转移提供了有力保障。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种可寻址测试芯片版图的生成方法，其特征在于包括以下步骤：（1）选择IP；（2）根据设计规则将测试结构摆放成阵列；（3）IP和测试结构阵列自动连接绕线产生测试芯片版图。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：郑勇军，欧阳旭，邵康鹏，潘伟伟，刘永利，
申请(专利权)人：杭州广立微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：