基于光栅剪切成像的安检设备及方法技术

本发明专利技术公开了一种基于光栅剪切成像的安检设备及方法。该设备包括：用于产生多缝X射线光源的光源装置；具有狭缝的扇形光束产生装置，在X射线光源产生的光束的照射下产生扇形光束，并照射分束光栅；被检物品通道；设于通道一侧的分束光栅，将扇形光束分束为一维光束阵列；分析光栅阵列，产生不同的光强背景，增强或抑制被检物品的折射或散射信号；线阵探测器阵列，贴近分析光栅放置，探测光强的背景和空间位置的变化，在不同光强背景下采集被检物品的投影像。本发明专利技术的设备和方法具有被检物品一次通过、同时实现被检物品吸收、折射和散射三种特性的检测，具有简便快速检测多种物质特性的优点，并能够提升对炸药等有机物的探测效率。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种基于光栅剪切成像的安检设备，其特征在于，包括：用于产生多缝X射线光源的光源装置，每条缝光源都产生X射线光束；具有狭缝的扇形光束产生装置，用于在X射线光源产生的光束的照射下产生扇形光束，并照射分束光栅；用于传送被检物品的通道；设于所述通道一侧的分束光栅，用于将所述扇形光束沿垂直于扇面的方向，分束为一维光束阵列；设于所述分束光栅后面的分析光栅阵列，至少包括平行排列的三个分析光栅，分别用于产生不同的光强背景，增强或抑制被检物品的折射信号或散射信号；线阵探测器阵列，至少包括平行排列的三个线阵探测器，所述线阵探测器贴近所述的分析光栅放置，并且一一对应，所述线阵探测器用于探测光强的背景和空间位置的变化，在不同光强背景下采集被检物品的投影像。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：朱佩平，黄万霞，张凯，洪友丽，袁清习，
申请(专利权)人：中国科学院高能物理研究所，
类型：发明
国别省市：