LED多应力下可靠性快速评测方法技术

本发明专利技术公开一种LED多应力下可靠性快速评测方法,包括如下步骤：S1、测量LED在特定条件下的寿命τr，所述特定条件是指特定的温度T、电流I、湿度H；S2、根据拟合系数A、B、m、n，按如下公式计算LED寿命τ：,其中，Ea为激活能(eV)，k为玻尔兹曼常数(8．617×10-5eV／K)，T为绝对温度(K)。本发明专利技术的两个修正项：,?，充分考虑到了各应力之间的相关性，并在原始模型基础上用人工神经网络方法进行动态修正。可以帮助业界快速准确评测出LED产品的可靠性，也就可以在实验室分析发现LED产品在制造过程中可能产生的缺陷，改善制造过程中关键工艺以提高产品品质。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种LED多应力下可靠性快速评测方法,其特征是包括如下步骤：S1、测量LED在特定条件下的寿命τr，所述特定条件是指特定的温度T、电流I、湿度H；S2、在Eyring模型的基础上，引入与、I?2n、和H?2m相关的修正项，根据修正后的公式计算LED器件服役时间τ,其中，Ea为激活能(eV)，k为玻尔兹曼常数(8．617×10?5eV／K)，T为绝对温度(K),m、n为拟合系数。FDA0000247196871.jpg,FDA0000247196872.jpg

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘淮源，刘岩，敬刚，胡益民，张超，陆兆隆，张志甜，陈进，
申请(专利权)人：深圳清华大学研究院，
类型：发明
国别省市：