水分测定仪制造技术

技术编号:9274918 阅读:380 留言:0更新日期:2013-10-24 22:58
一种水分测定仪,入射光纤用于通过聚焦透镜将光源引导照射待测样品;接收光纤用于接收待测样品反射的光线并入射到准直透镜上;准直透镜用于将入射光平行投射到滤光片阵列上;滤光片阵列包括矩阵排列的不同波长的滤光片;聚焦透镜阵列和阵列探测器分别包括一一对应的聚焦透镜和探测器单元;滤光片阵列用于将入射光线分离成多个不同波长的光束;聚焦透镜阵列用于将光束分别聚焦投射到探测器上;阵列探测器用于得到多个强度值;主机用于采集阵列探测器产生的多个强度值,计算得到待测样品的水分含量。通过多波长矩阵方式能大大减小温度等环境因素变化以及样品质地不同造成吸收峰漂移导致的测量误差问题。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种水分测定仪,其特征在于,包括:光源、聚焦透镜、入射光纤、接收光纤、准直透镜、滤光片阵列、聚焦透镜阵列、阵列探测器及主机,所述入射光纤用于通过所述聚焦透镜将所述光源引导照射待测样品;所述接收光纤用于接收所述待测样品反射的光线并入射到所述准直透镜上;所述准直透镜用于将入射光平行投射到所述滤光片阵列上;所述滤光片阵列包括矩阵排列的不同波长的滤光片,其中包括单列数量的参比波长和测量波长,所述参比波长是水分光吸水率较小的波长,所述测量波长是水分光吸收率较大的波长;所述聚焦透镜阵列包括与所述滤光片阵列上所述滤光片一一对应的矩阵排列的聚焦透镜;所述阵列探测器包括与所述聚焦透镜一一对应的矩阵排列的探测器单元;所述滤光片阵列用于将入射光线分离成多个不同波长的光束,并照射到所述聚焦透镜阵列上,多个不同波长的光束包括多个参比光束和多个测量光束;所述聚焦透镜阵列用于将入射的所述多个不同波长的光束分别聚焦投射到所述阵列探测器上对应的所述探测器单元上;所述阵列探测器用于通过所述多个探测器单元分别得到多个不同波长光束的强度值;所述主机用于采集所述阵列探测器产生的多个强度值,计算得到多个参比光束的强度平均值,并根据所述参比光束的强度平均值和多个测量光束的强度值,得到各个测量光束的吸光度,以及根据所述各个测量光束的吸光度和预设计算模型计算得到所述待测样品的水分含量。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:林慧韩明
申请(专利权)人:深圳先进技术研究院
类型:发明
国别省市:

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