测量区间大的锥形塞尺制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测量区间大的锥形塞尺，属于用于直接读数的带刻度或标记的尺，包括，塞尺在靠斜边处设有尺寸线性刻度区，尺寸线性刻度区覆盖整个塞尺斜边的长度，塞尺上设有尺寸数字显示区，其特征是：所述塞尺有四片，分别是塞尺一部，塞尺二部，塞尺三部，塞尺四部，塞尺一部的顶边与塞尺二部的底边宽度等长，塞尺二部的顶边与塞尺三部的底边宽度等长，塞尺三部的顶边与塞尺四部的底边宽度等长，四片塞尺的宽度连续性增大，四片塞尺顶部有圆形转轴连接成一体，这样增大了锥形塞尺的测量区间，选择合适的塞尺部件插入间隙、管、孔内，就可以简单的测量出内径和间隙尺寸，适用范围广。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于用于直接读数的带刻度或标记的尺。 
技术介绍
在工厂生产装配过程或质量检测中，经常要测量产品的间隙、管、孔的内径和间隙尺寸，现有中国专利号为200920300869.2的锥形塞尺技术公开了一种锥形塞尺，塞尺的锥形斜边与直边之间形成锐角为6度的夹角，塞尺在靠锥形斜边处设有尺寸线性刻度区，尺寸线性刻度区覆盖整个锥形斜边的长度。塞尺在靠直边处设有尺寸数字显示区，尺寸数字显示区上设有尺寸显示整数值。尺寸线性刻度区的每相邻刻度线之间的尺寸刻线间距为0.1MM。能够更快捷方便的测量出所装配的产品间隙尺寸，读数快捷有效果，操作简单，提高生产检测工作效率，降低生产制造成本。但该技术的测量宽度范围小，不能测量一些大型号的圆孔或间隙宽度。 
技术实现思路
为了克服现有锥形塞尺测量范围受限的不足，本技术提供了一种测量区间大的锥形塞尺，该测量区间大的锥形塞尺不仅测量范围大，而且收纳方便。 本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种测量区间大的锥形塞尺，包括，塞尺的斜边处设有尺寸刻度区，尺寸线性刻度区覆盖整个塞尺斜边的长度，塞尺上设有尺寸数字显示区，其特征是：所述塞尺有四片，分别是塞尺一部，塞尺二部，塞尺三部，塞尺四部，塞尺一部的顶边与塞尺二部的底边宽度等长，塞尺二部的顶边与塞尺三部的底边宽度等长，塞尺三部的顶边与塞尺四部的底边宽度等长，四片塞尺的宽度依次连续性增大，四片塞尺顶部有圆形转轴连接成一体。 本技术的有益效果是有四片塞尺，塞尺一部的顶边与塞尺二部的底边宽度等长，塞尺二部的顶边与塞尺三部的底边宽度等长，塞尺三部的顶边与塞尺四部的底边宽度等长，四片塞尺的宽度连续性增大，四片塞尺顶部有圆形转轴连接成一体，这样增大了锥形塞尺的测量区间，选择合适的塞尺部件插入间隙、管、孔内，就可以简单的测量出内径和 间隙尺寸，适用范围广。 附图说明附图1为本技术的结构示意图， 图中，1.一部，2.二部，3.三部，4.四部，5.转轴。 具体实施方式本技术的具体实施方式是，如图所示： 实施例1，一种测量区间大的锥形塞尺，包括，塞尺的斜边处设有尺寸刻度区，尺寸线性刻度区覆盖整个塞尺斜边的长度，塞尺上设有尺寸数字显示区，其特征是：所述塞尺有四片，分别是塞尺一部1，塞尺二部2，塞尺三部3，塞尺四部4，塞尺一部1的顶边与塞尺二部2的底边宽度等长，塞尺二部2的顶边与塞尺三部3的底边宽度等长，塞尺三部3的顶边与塞尺四部4的底边宽度等长，四片塞尺的宽度依次连续性增大，四片塞尺顶部有圆形转轴5连接成一体。 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量区间大的锥形塞尺，包括，塞尺的斜边处设有尺寸刻度区，尺寸线性刻度区覆盖整个塞尺斜边的长度，塞尺上设有尺寸数字显示区，其特征是：所述塞尺有四片，分别是塞尺一部，塞尺二部，塞尺三部，塞尺四部，塞尺一部的顶边与塞尺二部的底边宽度等长，塞尺二部的顶边与塞尺三部的底边宽度等长，塞尺三部的顶边与塞尺四部的底边宽度等长，四片塞尺的宽度依次连续性增大，四片塞尺顶部有圆形转轴连接成一体。

【技术特征摘要】
1.一种测量区间大的锥形塞尺，包括，塞尺的斜边处设有尺寸刻度区，尺寸线性刻度区覆盖整个塞尺斜边的长度，塞尺上设有尺寸数字显示区，其特征是：所述塞尺有四片，分别是塞尺一部，塞尺二部，塞尺三部，塞尺四...

【专利技术属性】
技术研发人员：李志鹏，
申请(专利权)人：李志鹏，
类型：实用新型
国别省市：