一种定位GIS内部放电性故障的方法技术

本发明专利技术属于检测技术领域，具体涉及一种定位GIS内部放电性故障的方法，包括采样步骤、现场检测步骤和实验室检测步骤，所述实验室检测步骤包括气体进样，组分检测，样品经色谱柱分离、检测器检测，记录不同组分的峰区面积或峰高，计算各组分的浓度，根据GIS中SF6气体组分和计算各成分的浓度对GIS内部放电性故障定位。该方法通过检测GIS中SF6分解物判断GIS设备的内部状况，对GIS进行故障气室定位和对设备中潜伏故障进行跟踪监测，缩小检修范围，缩短检修时间，为GIS设备故障诊断提供一个新的检测手段。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种定位GIS内部放电性故障的方法,包括采样步骤、现场检测步骤和实验室检测步骤，其特征在于，所述现场检测为检测管检测，所述现场检测步骤为：（1）将装有来自GIS设备中SF6气体的取样袋与检测管一端连接，检测管另一端插入气体采样器进气嘴；（2）推拉气体采样器的手柄，多次采集，至检测管中指示剂变色，判断GIS设备中SF6气体组分及其含量；所述实验室检测为气相色谱分析，所述实验室检测步骤为：（1）在气相色谱仪器运行稳定后，将已知浓度的以氦气为底的单一组分标准气体进样标定，得到该组分的色谱图峰面积Ais或峰高his；（2）气体进样，将采样容器与气体采样阀的进气口相连接，用样品气冲洗定量管及管路0.5min～1min，关闭采样容器阀门；（3）组分检测，在稳定的色谱仪工作条件下，切换六通定量阀至进样位置，载气与采样管相连，样品经色谱柱分离、检测器检测，记录不同组分的峰区面积Aig或峰高hig；（4）组分浓度计算，根据不同组分的峰面积Aig或峰高hig，按式（1）计算各组分的浓度Xig=cis·AigAis---(1)式中，Xig——样品气体中i组分浓度，μL/L；cis——标准气体中i组分浓度，μL/L；Aig——样品气体中i组分的峰面积，mm2；Ais——标准气中i组分的峰面积，mm2；其中Aig、Ais也可用峰高hig、his代替。所述定位方法为根据GIS中SF6气体组分和式（1）计算各成分的浓度对GIS内部放电性故障定位。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：高凯，徐红，彭伟，倪浩，姚明，
申请(专利权)人：国家电网公司，上海市电力公司，华东电力试验研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：