一种基于近红外光谱的水稻种质真伪无损检测方法技术

本发明专利技术公开了一种基于近红外光谱的水稻种质真伪无损检测方法，包括光谱采集，光谱预处理，聚类分析。本发明专利技术是利用不同遗传背景的水稻品种籽粒中含氢基团化学物质组成和比例不同，通过近红外光谱技术建立聚类分析模型，快速无损地检测区分种子真伪。该方法优点在于检测时，水稻样品不需要预处理、无损、快速、高效、简便，结果更客观、准确。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种基于近红外光谱的水稻种质真伪无损检测方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）建立已知水稻品种的校正集a、光谱采集将已知品种的种子放入样品杯，使用样品杯漫反射扫描参数，光谱扫描范围为4000～12000cm?1，分辨率16cm?1，扫描次数32次，作为背景光谱，背景扫描后，再对每粒种子进行扫描得到近红外漫反射光谱；b、光谱预处理对于近红外漫反射原光谱经过矢量归一化和二阶导数预处理后得到的最终分析光谱；c、聚类分析聚类分析首先通过标准法计算所有谱图间的光谱距离，将两张最小距离的谱图聚成一类，然后再计算该类与其它所有谱图的距离将最小距离的谱图再聚成一类，这个过程一直重复到只剩下一个大类；（2）建立待测水稻品种的校正集d、光谱采集将待测产品的种子放入样品杯，使用样品杯漫反射扫描参数，光谱扫描范围为4000～12000cm?1，分辨率16cm?1，扫描次数32次，作为背景光谱，背景扫描后，再对每粒种子进行扫描得到近红外漫反射光谱；e、光谱预处理对于近红外漫反射原光谱经过矢量归一化和二阶导数预处理后得到的最终分析光谱；f、聚类分析聚类分析首先通过标准法计算所有谱图间的光谱距离，将两张最小距离的谱图聚成一类，然后再计算该类与其它所有谱图的距离将最小距离的谱图再聚成一类，这个过程一直重复到只剩下一个大类；（3）比较校正集和预测集的分类正确率来评价水稻种质的真伪建立已知检测种质的校正集数据库，在检测中被检测种质光谱特征落入校正集时，则待测水稻为已知品种，否则判断为未知品种。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴跃进，梁剑，宋乐，刘斌美，王琦，卞坡，余立祥，陶亮之，
申请(专利权)人：中国科学院合肥物质科学研究院，
类型：发明
国别省市：