【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种PZT调制系数测试装置,包括:一窄线宽半导体激光器;一光隔离器,其输入端与窄线宽半导体激光器的输出端连接;一迈克尔逊干涉仪,其第一输入端与光隔离器的输出端连接;一光电探测器,其输入端与迈克尔逊干涉仪的输出端连接;一数据采集卡,其第一输入端与光电探测器的输出端连接;一数据处理系统,其输入端与数据采集卡的输出端连接;一载波电路,其第一输出端与迈克尔逊干涉仪的第二输入端连接,第二输出端与数据采集卡的第二输入端连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:方高升,徐团伟,李芳,
申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。