【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种PZT调制系数测试装置，包括：一窄线宽半导体激光器；一光隔离器，其输入端与窄线宽半导体激光器的输出端连接；一迈克尔逊干涉仪，其第一输入端与光隔离器的输出端连接；一光电探测器，其输入端与迈克尔逊干涉仪的输出端连接；一数据采集卡，其第一输入端与光电探测器的输出端连接；一数据处理系统，其输入端与数据采集卡的输出端连接；一载波电路，其第一输出端与迈克尔逊干涉仪的第二输入端连接，第二输出端与数据采集卡的第二输入端连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：方高升，徐团伟，李芳，
申请(专利权)人：中国科学院半导体研究所，
类型：发明
国别省市：
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