PZT调制系数测试装置及测试方法制造方法及图纸

技术编号:9237393 阅读:143 留言:0更新日期:2013-10-10 01:00
本发明专利技术提供一种PZT调制系数测试装置及测试方法,其中PZT调制系数测试装置,包括:一窄线宽半导体激光器;一光隔离器,其输入端与窄线宽半导体激光器的输出端连接;一迈克尔逊干涉仪,其第一输入端与光隔离器的输出端连接;一光电探测器,其输入端与迈克尔逊干涉仪的输出端连接;一数据采集卡,其第一输入端与光电探测器的输出端连接;一数据处理系统,其输入端与数据采集卡的输出端连接;一载波电路,其第一输出端与迈克尔逊干涉仪的第二输入端连接,第二输出端与数据采集卡的第二输入端连接。本发明专利技术其可解决现有光纤激光式传感解调系统中PZT调制系数稳定控制与调节的技术问题。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种PZT调制系数测试装置,包括:一窄线宽半导体激光器;一光隔离器,其输入端与窄线宽半导体激光器的输出端连接;一迈克尔逊干涉仪,其第一输入端与光隔离器的输出端连接;一光电探测器,其输入端与迈克尔逊干涉仪的输出端连接;一数据采集卡,其第一输入端与光电探测器的输出端连接;一数据处理系统,其输入端与数据采集卡的输出端连接;一载波电路,其第一输出端与迈克尔逊干涉仪的第二输入端连接,第二输出端与数据采集卡的第二输入端连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:方高升徐团伟李芳
申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
类型:发明
国别省市:

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