【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
ATP荧光快速检测仪全避光检测装置，包括有相互连接的光电检测器（3）和检测室（2），在检测室（2）上连接检测室盖（4），；其特征在于：所述检测室（2）内设有检测通道（21），所述检测通道（21）的垂直截面为L型，检测通道（21）顶端开有放样孔（211），底端右侧开有通光孔（212），检测室（2）顶端设有第一挡光壁（22），第一挡光壁（22）处于放样孔（211）的外沿上方，在通光孔（212）外的检测室（2）表面上设有第二挡光壁（24），所述光电检测器（3）连接在第二挡光壁（24）所在的检测室（2）侧面上，通光孔（212）与所述光电检测器（3）内相通；检测室盖（4）底面设有第三挡光壁（41），其与所述第一挡光壁（22）相匹配，在检测室盖（4）旁侧设有固定转轴孔（42），前端设开启凹槽（43）。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：倪树标，张冠文，陈云，陈江韩，刘日威，黎国标，
申请(专利权)人：中国广州分析测试中心，
类型：实用新型
国别省市：
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