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3D获取系统的校准方法技术方案

技术编号:9223749 阅读:172 留言:0更新日期:2013-10-04 17:42
本发明专利技术公开了一种用于3D获取系统的校准方法,涉及系统校准领域,所述方法包括:A、沿不同路径对校准物进行多次采集,记录每次采集的深度信息、图像信息以及位置信息和姿态信息;B、通过校准校准物在本地坐标系下的三维坐标,得到校准后的深度传感器和位置姿态传感器之间的外参数,以及校准物的准确三维坐标;C、通过校准校准物的准确三维坐标在图像信息中的二维坐标和图像信息中的校准物的平面坐标,得到校准后的图像传感器和位置姿态传感器的外参数。本发明专利技术通过一次校准过程同时校准深度传感器和位置姿态传感器之间的外参数以及图像传感器和位置姿态传感器之间的外参数,达到校准所述3D获取系统的目的。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种3D获取系统的校准方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:A、沿不同路径对校准物进行多次采集,记录每次采集的深度信息、图像信息以及位置信息和姿态信息;B、通过校准校准物的三维坐标,得到校准后的深度传感器和位置姿态传感器之间的外参数,以及校准物的准确三维坐标(xl,yl,zl);C、通过校准校准物的准确三维坐标(xl,yl,zl)在图像信息中的二维坐标(rlj,clj)和图像信息中的校准物的平面坐标(rcj,ccj),得到校准后的图像传感器和位置姿态传感器的外参数;所述深度传感器和位置姿态传感器之间的外参数是指深度传感器和位置姿态传感器之间的相对位置和姿态;所述图像传感器和位置姿态传感器之间的外参数是指图像传感器和位置姿态传感器之间的相对位置和姿态。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:任仡奕周莹吕俊宏王伟谢翔李国林王志华
申请(专利权)人:清华大学
类型:发明
国别省市:

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