【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种四分之一波片相位延迟量的测量装置，其特征在于该装置由准直光源（1）、圆起偏器（2）、光弹调制器（3）、圆检偏器（5）、光电探测器（6）、光弹控制器（7）、锁相放大器（8）和计算机（9）组成，上述元部件的位置关系如下：沿所述的准直光源（1）出射的光束前进方向依次是所述的圆起偏器（2）、光弹调制器（3）、圆检偏器（5）和光电探测器（6），在所述的光弹调制器（3）和圆检偏器（5）之间设有待测波片（4）的插口。所述的光弹控制器（7）的第一输出端接所述的光弹调制器（3）的控制端，所述的光弹控制器（7）的第二输出端接所述的锁相放大器（8）的参考信号输入端，所述的光电探测器（6）的输出端接所述的锁相放大器（8）的信号输入端，所述的锁相放大器（8）的信号输出端通过串口接入所述的计算机（9），该计算机（9）安装有与所述的锁相放大器（8）配套的Signaloc2100数据采集程序，该Signaloc2100数据采集程序用于采集锁相放大器（8）输出信号的直流分量和二次谐波分量。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：曾爱军，邓柏寒，刘龙海，朱玲琳，黄惠杰，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：
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