一种基线动态测量系统的精度获取方法技术方案

技术编号:9197429 阅读:233 留言:0更新日期:2013-09-26 01:42
本发明专利技术公开了一种基线动态测量系统的精度获取方法。该方法包括:天线模拟运动平台产生天线运动所需要的运动轨迹,基线动态测量系统和激光跟踪仪同时测量天线模型上其合作目标的位置和姿态变化,分别得到天线模型的相位中心的位置和姿态变化;根据基线动态测量系统和激光跟踪仪的坐标系转换关系,把激光跟踪仪测量的模拟天线的相位中心的位置和姿态变化统一到基线动态测量系统坐标系下;以基线动态测量系统坐标系下激光跟踪仪测量的天线的相位中心的位置和姿态变化作为标准值,将基线动态测量系统的测量值与该标准值比较,进行误差统计分析,得到基线动态测量系统的测量精度。本发明专利技术采用高精度的激光跟踪仪作为参照系统,误差小,评估的精度更真实可靠。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种基线动态测量系统的精度获取方法,包括:在天线模型上分别安装基线动态测量系统和激光跟踪仪的合作目标,将天线模型安装于天线模拟运动平台上;基线动态测量系统和激光跟踪仪分别对准所述天线模型上相应的合作目标;天线模拟运动平台产生天线运动所需要的运动轨迹,基线动态测量系统和激光跟踪仪同时测量天线模型上其合作目标的位置和姿态变化,分别得到天线模型的相位中心的位置和姿态变化;根据基线动态测量系统和激光跟踪仪的坐标系转换关系,把激光跟踪仪测量的模拟天线的相位中心的位置和姿态变化统一到基线动态测量系统坐标系下;以基线动态测量系统坐标系下激光跟踪仪测量的天线的相位中心的位置和姿态变化作为标准值,将基线动态测量系统的测量值与该标准值比较,进行误差统计分析,得到基线动态测量系统的测量精度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:向茂生王静韦立登刘忠胜孙曦蕊
申请(专利权)人:中国科学院电子学研究所
类型:发明
国别省市:

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