【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种全反射X射线荧光光谱仪，其特征在于，包括：样品室：包括用于盛放样品的样品台、样品定位装置和用于探测所述样品受X射线照射时产生的荧光的探测器；X射线管发生装置：用于发射X射线照射至所述样品，所述X射线入射至所述样品的入射角＜0.1°；单色器装置：用于将所述X射线形成单色光；控制装置：用于接收所述探测器探测到的所述样品产生的荧光和分析所述样品中的元素及含量。
【技术特征摘要】
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