一种基于CCD的光电直读光谱仪异常点筛选方法技术

本发明专利技术提供了一种基于CCD的光电直读光谱仪异常点筛选方法，包括步骤一：上位机设置激发参数信息；步骤二：下位机采集CCD数据，并对数据进行累加和计算平均值；步骤三：下位机将计算出的累加值与平均值传输至上位机；步骤四：上位机再次设置激发参数信息；步骤五：上位机设置P、S的位置信息；步骤六：下位机采集并存储CCD数据；步骤七：下位机将P、S的光谱数据传输至上位机；步骤八：上位机通过对步骤六传输的数据进行处理计算，得出元素含量；本发明专利技术一种基于CCD的光电直读光谱仪异常点筛选方法，解决了下位机存储容量和数据处理能力不足无法实现CCD光谱数据异常筛选的问题，有效提高了CCD直读光谱测量P、S的数据稳定性，对于含量从0.1％～0.6％的P、S数据稳定性从原来的RSD为5％提升到1％。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种基于CCD的光电直读光谱仪异常点筛选方法，其特征在于：包括如下工作步骤：步骤一：上位机设置激发参数信息；步骤二：下位机采集CCD数据，并对数据进行累加和计算平均值；步骤三：下位机将计算出的累加值与平均值传输至上位机；步骤四：上位机再次设置激发参数信息；步骤五：上位机设置P、S的位置信息；步骤六：下位机采集并存储CCD数据；步骤七：下位机将P、S的光谱数据传输至上位机；步骤八：上位机通过对步骤六传输的数据进行处理计算，得出元素含量；所述步骤一、步骤二与步骤三为正常分析阶段；所述步骤四、步骤五、步骤六、步骤七与步骤八为P、S分析阶段。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：顾德安，
申请(专利权)人：无锡创想分析仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：