测试设备及其方法技术

本发明专利技术涉及测试设备及其方法。测试装置用于测试电子显示器的一个或多个特性。该测试装置包括主体和容纳腔，该容纳腔限定在主体内并被配置成容纳电子显示器的至少一部分。该测试装置还包括多个传感器，所述多个传感器位于测试装置的第一表面上，并被配置成与容纳在容纳腔内电子显示器的至少一部分光通信。多个传感器被配置成通过检测从电子显示器发射的光来检测电子显示器的至少一种类型的非均匀性。

【技术实现步骤摘要】
测试设备及其方法
本申请一般地涉及显示装置，并尤其涉及用于测试显示装置的设备。
技术介绍
电子显示器，诸如与电子装置一起使用或并入电子装置的那些电子显示器，具有各种不同的光学参数，其决定或影响这些显示器上显示的图像的质量和/或外观。例如，显示器的对比度、亮度、光的均匀性、灰度、和/或色饱和度可能会改变这些显示器上的图像的外观。此外，电子显示器可能会受到视觉假象(artifact)，如漏光、闪烁、波纹、点或线缺陷等等。这些假象可能会影响用户在查看电子显示时的体验质量。一般地，假象可以是基于参数的，并因此一般是静态的(诸如漏光)，或可以是基于假象的，并因此一般是动态的(诸如闪烁)。在某些情况下，有益的是，在制造过程中测试电子显示器，以便修正参数、减少或消除假象，和/或防止有缺陷的显示器被运送或以其他方式提供给消费者。然而，目前的检测设备和方法通常提供基于参数的测试或基于假象的测试。假象测试和参数测试两者通常必须被使用，使得这两种类型的缺陷可以被测试，从而需要用于每个显示器面板的两个独立的测试组。此外，光学参数和/或假象的一些当前(current)测试可能是非常精确的，但可能是劳动密集、需要昂贵的设备，或每次只测试特定的一个像素或一组像素。这种测试不被扩展为以时间有效或成本有效的方式测试电子显示器的生产线。
技术实现思路
一般地，本文所描述的实施例可以采用用于测试电子显示器的一个或多个特性的测试装置的形式。该测试装置包括主体和容纳腔，该容纳腔限定在主体内并被配置成容纳电子显示器的至少一部分。该测试装置还包括多个传感器，定位在测试装置的第一表面上，并被配置成与容纳在容纳腔内的电子显示器的至少一部分光通信。多个传感器被配置成通过检测从电子显示器发射的光来检测电子显示器的至少一种类型的非均匀性。另一种实施例可以采取用于检测电子显示器的一个或多个非均匀性的方法的形式。该方法包括提供具有一个或多个传感器的测试装置，和由所述一个或多个传感器在时间段内收集对应于从电子显示器发射的光的光数据。然而，另一实施例可以采用用于检测计算设备的显示器的两个或更多个特性的测试装置的形式。该测试装置包括主体；容纳腔，限定在主体内，并被配置成容纳显示器的至少一部分；第一组传感器，定位在第一表面上，并配置成与容纳在容纳腔内的显示器的第一部分光通信；第二组传感器，定位在第一表面上，并与第一组传感器在空间上分离，第二组传感器被配置成与容纳在空腔内的显示器的第二部分光通信。第一组传感器和第二组传感器被配置成检测显示器的至少一种类型的非均匀性。在阅读详细的说明书之后，其它实施例和优点会很清楚。附图说明图1是用于检测显示器中的一个或多个非均匀性的示例测试装置的顶部透视图。图2是图1的测试装置的俯视图。图3是图1的测试装置的盖体处于打开位置的侧面透视图。图4是图1的测试装置的盖体处于打开位置的俯视图。图5是测试装置的另一个示例实施例的顶部透视图。图6A是图5的测试装置的盖体处于打开位置的前顶部透视图。图6B是图5的测试装置的盖体处于打开位置的侧面透视图。图7是图5的测试装置的底部的俯视图。图8A是电子显示器容纳在图1的测试装置中的前透视图。图8B是电子显示器容纳在图1的测试装置中的盖体处于关闭的前透视图。图9是具有电子显示器容纳在其中的测试装置的截面图。图10是例示用于测试电子显示器以便检测一个或多个非均匀性的方法的流程图。图11是例示用于分析传感器数据以便确定所测试的电子显示器是否具有一个或多个非均匀性的方法的流程图。具体实施方式本申请要求于2012年3月16日提交的、美国临时申请号为No.61/612,054、标题为“ImagingSensorArrayTestingEquipment”的优先权，其全部内容通过引用并入本文。一般地，本文所描述的实施例可以采用用于测试电子显示器的一个或多个方面的装置和方法的形式，该电子显示器例如液晶显示器(LCD)、发光二极管(LED)屏，或等离子显示器。本文所描述的装置和方法可基本用于任何类型的使用一个或多个光源发射一个或多个图像的电子显示器，并且可用于检测显示器的一个或多个非均匀性。如在
技术介绍
部分所简要描述的，电子显示器可具有一个或多个非均匀性或不期望的特性，这些非均匀性中的一些在被检测到的情况下是可修正的，其他的非均匀性不可修正并导致显示器对于消费者使用或出售是不期望的。显示器的当前测试装置通常只测试一个显示器的光学特性方面的变化中的一种，静态假象、或者动态假象，下面更详细限定其中的每一个。另外，许多测试装置是劳动密集的和/或需要昂贵的设备，并因此不能容易地或有效地适于显示装置的商业化生产。如本文所定义的，用于显示屏的非均匀性或非均匀特性是指以包含在空间上、时间上、或者与基本相似的显示器相比的特性的基本任何类型的变化。例如，非均匀性可包括光学特性或参数的差异或错误，和/或可包括图像的可视化表示期间的假象或异常(anomalies)，其例子在下面进行更详细讨论。在本公开的一个实施例中，测试装置可以用来测量显示特性以及它们与接受或期望的一组值的差异。这些显示特性可包括与所期望的值不同的一个或多个光学参数。测试装置还对一个或多个显示假象，静态假象和动态假象两者的存在进行测试。测试装置可包括限定被配置成容纳电子显示器或其一部分的容纳腔的主体。测试装置的一些实施例可以包括盖体或其他组件，可以用于防止在对显示器进行测试时外部光进入空腔。而在其他实施例中，测试装置可以是相对平的表面，并且显示器可以定位在表面的顶部，或可滑入配合到表面上，或测试设备可以滑动到显示器上或以其他方式可操作地连接到显示器。在这些实施例中，测试装置可以不包括空腔和/或盖体。此外，测试装置可包括一个或多个光传感器，例如光电晶体管，其可以被用于测量显示器的各种特性。传感器可以被布置在空腔内，以捕获从部分或基本整个显示器发射的光。可从多个传感器收集数据，并且数据被分析以确定电子显示器的各种特性。例如，特定传感器的输入信号可以被分析，以确定从显示器的特定区域发射的光是否处于所期望的水平。作为另一个例子，在显示器激活的时间段内的传感器的输入信号，显示器的某些区域相对于其他区域的变化或差异(例如更亮的区域、基于波长的不同颜色)等被分析，以确定显示器的特性。在一些实施例中，所述多个传感器中的每一个可以是光电传感器，例如光谱适合光电晶体管，发光度曲线一般峰值处于对人视觉可感知的电磁光谱的波长(例如，具有波长范围从约390至750纳米)，或具有一般匹配人可视光谱的检测曲线。在这些实施例中，多个传感器可以是能够更精确地检测人可感知的显示器内的非均匀性。在本公开的另一个实施例中，用于测试的方法可以检测电子显示器的一个或多个非均匀性。在该方法中，显示器或其中的一部分可以被定位在容纳腔内并被激活一段时间。当显示器被激活时，它可以发射光，在显示器上创建一个或多个图像或其他可视输出。当显示器被激活时，传感器可产生与显示器的所发射的光相关联的信号。应当指出，在其它实施例中，在测试显示器的激活期间，可以只包括激活用于显示屏的背光源，并由此显示器可以不被配置为发射图像，而只发射背景光。来自传感器的信号或数据接着可以被关联以确定显示器的动态和/或静态特性。例如，因为已知图像所期本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测试电子显示器的一个或多个特性的设备，包括：主体；容纳腔，限定在主体内，并被配置成容纳电子显示器的至少一部分；多个传感器，定位在第一表面上，并被配置成与容纳在容纳腔内电子显示器的至少一部分光通信；其中所述多个传感器被配置成检测电子显示器的至少一种类型的非均匀性。

【技术特征摘要】
2012.03.16 US 61/612,054;2012.09.28 US 13/631,4441.一种用于测试电子显示器的一个或多个特性的设备，包括：主体；容纳腔，限定在主体内，并被配置成容纳电子显示器，其中所述容纳腔由被多个侧壁包围的第一表面限定，其中所述侧壁限定基本与电子显示器的形状匹配的矩形形状，其中所述侧壁具有顶表面，并且其中所述电子显示器在所述容纳腔中时被完全包含在所述侧壁的顶表面之下；多个传感器，定位在第一表面上，并被配置成与容纳在容纳腔内的电子显示器光通信，其中所述多个传感器被配置成检测电子显示器的至少一种类型的非均匀性；盖体，防止光进入所述容纳腔；以及盖体上的输出机构，其中所述输出机构包括网格状的多个灯，并且其中每个灯的位置与所述容纳腔的第一表面上的相应的传感器的位置对应。2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述至少一种类型的非均匀性包括至少一个光学特性和至少一个假象。3.根据权利要求2所述的设备，其中，所述至少一个假象包括至少一个静态假象和至少一个动态假象。4.根据权利要求1所述的设备，其中，所述多个传感器是光传感器。5.根据权利要求4所述的设备，其中，所述多个传感器是具有基本跟随人的光度曲线的峰值的光电晶体管。6.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：J·C·达沃尔德，尹叶，
申请(专利权)人：苹果公司，
类型：发明
国别省市：