基于多CIS大幅面扫描仪的图像校正方法技术

本发明专利技术公开基于多CIS大幅面扫描仪的图像校正方法，解决CIS扫描仪存在扫描图像还原效果差的问题。本发明专利技术包括以下步骤：（1）准备一张有M段图像的校正纸；（2）设置最大曝光时间，对纯白段图像进行扫描并求出N根CIS中每个通道像素值的平均值，找出基准值，以该通道的曝光时间作为其最佳曝光时间和其余通道的曝光时间，重新得到其余通道的像素值的平均值，利用|平均值-基准值|<3确定其余通道的最佳曝光时间；（3）根据最佳曝光时间，得到相应的Yi(w)和理论Ci(w);（4）利用计算每两段图像的Gi和Oi，利用Ci(w)=GiYi(w)+Oi计算出每两段图像的实际响应输出；（5）结合得出的实际响应输出，完成对扫描图像的校正。本发明专利技术可以最大限度还原图像本身。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
基于多CIS大幅面扫描仪的图像校正方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）准备一张校正纸，该校正纸上有M段不同的图像，且该M段图像中包含RGB通道的像素值为255的纯白段图像，M为自然数；（2）将CIS传感器中N根CIS每个通道的曝光时间均设置为CIS传感器所支持的最大曝光时间，在所选的曝光时间下，对纯白段图像进行扫描得到其图像信息，N为自然数；（3）根据步骤（2）得到的图像信息，分别求出每根CIS中R、G、B三个通道各自的像素值的平均值，并在所有CIS中找出平均值最小的那个通道，以该通道的平均值作为基准值，同时将该通道的最佳曝光时间记为当前的曝光时间，重新调整其他剩余通道的曝光时间并得到对应的像素值的平均值，利用|平均值?基准值|是否小于3判断其他通道的曝光时间是否为最佳曝光时间，是，则判断该通道当前的曝光时间为其最佳曝光时间，否，则调整该通道的曝光时间，重新得到相应的像素值的平均值，并继续计算，直到|平均值?基准值|Gi=Ci(w2)-Ci(w1)Yi(w2)-Yi(w1)Oi=Yi(w1)Ci(w2)-Ci(w1)Yi(w2)Yi(w1)-Yi(w2)计算出该两段图像的增益系数和偏移系数，其中，Gi为增益系数，Oi为偏移系数；（6）根据步骤（5）求得的Gi和Oi，取出该两段图像中其他点的光敏单元的响应输出Yi(w),并利用公式Ci(w)=GiYi(w)+Oi分别计算出该两段图像中其他点的实际响应输出，根据求得的Ci(w)对相应的点进行校正；（7）按照步骤（6）的方式分别计算校正纸中其余每两段图像之间的增益系数和偏移系数，计算出相应点的实际响应输出，并对计算出的实际响应输出进行校正；（8）结合步骤（6）、（7）得出的实际响应输出，完成对整个扫描图像的校正。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘霖，唐雪松，杨先明，陈德勇，刘娟秀，陈镇龙，谭良，凌云，邓可云，阳春波，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：