一种便于器件故障敏感度测试的故障注入系统及方法技术方案

技术编号:9141961 阅读:149 留言:0更新日期:2013-09-12 03:39
一种便于器件故障敏感度测试的故障注入系统及方法,注入系统包括控制芯片、待测器件和对比器件,待测器件与对比器件为相同的FPGA芯片且均与控制芯片连接,控制芯片包括待测器件故障注入模块、运行激励模块、结果比较模块和错误信息上传模块。控制芯片通过翻转配置码流的方式将故障注入进待测芯片中,同时运行待测器件和对比芯片,之后对比两者的运行结果,如果结果相同,证明待测器件没有发生错误,对该位错误不敏感,反之,证明待测器件发生错误,该位为错误敏感位。本发明专利技术可以方便的检测可编程逻辑器件的故障敏感度。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种便于器件故障敏感度测试的故障注入系统,其特征在于包括控制芯片、待测器件和对比器件,待测器件与对比器件为相同的FPGA芯片且均与控制芯片连接,控制芯片包括待测器件故障注入模块、运行激励模块、结果比较模块和错误信息上传模块;待测器件故障注入模块通过翻转配置位的方式向待测器件中注入故障,对比器件中的配置不变;运行激励模块提供待测器件和对比器件的运行条件,使待测器件和对比器件在相同运行条件下同时运行;结果比较模块收集待测器件和对比器件的运行结果,并且进行比较,判断配置位的翻转是否对待测器件的功能造成影响;错误信息上传模块将结果比较模块收集的错误信息输出。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:周婧陈雷王硕文治平李学武刘增荣陈勋齐畅孙雷陶娟娟
申请(专利权)人:北京时代民芯科技有限公司北京微电子技术研究所
类型:发明
国别省市:

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