高温环境下光电模块性能测试装置及测试方法制造方法及图纸

技术编号:9141916 阅读:341 留言:0更新日期:2013-09-12 03:37
本发明专利技术公布了高温环境下光电模块性能测试装置及测试方法,包括高温烤箱,在高温烤箱内安装有内部测试板,还包括外部测试板,内部测试板与外部测试板连接,外部测试板的输出端传输至计算机。本发明专利技术直接对整个光电模块进行加温实验,采集光电模块的5个关键参数在温度变化下的采样数据,对采样数据利用阿伦尼斯模型进行计算,从而评估光电模块在正常情况下的寿命;且不需要剥离出LED即可进行测试,方便实验的成规模应用;最佳的测试温度对应的加速因子可以取得最大值,在此温度上进行实验,其测试时间实际上远远低于在标准规定的温度下进行测试所需的时间,测试时间往往只有原来的测试时间的5%左右,极大地缩短了测试时间。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
高温环境下光电模块性能测试装置,其特征在于:包括高温烤箱,在高温烤箱内安装有内部测试板,还包括外部测试板,内部测试板与外部测试板连接,外部测试板与计算机相连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:舒勤姜振超李旻杨书佺黄宏光顾益双
申请(专利权)人:四川电力科学研究院四川大学
类型:发明
国别省市:

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