一种荧光分析方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种荧光分析方法和装置，具体地，本发明专利技术公开了一种定量检测待测物的检测方法和基于所述检测方法的检测装置，所述方法采用本发明专利技术的测试片，所述测试片包括：(i)可加入样品的加样区；(ii)位于加样区近端的结合区；(iii)位于结合区近端和加样区远端的测试区；和(iv)位于测试区近端和结合区远端的样品吸收区。所述方法包括步骤：(1)将待测物样品加至本发明专利技术的测试片的加样区；和(2)测量所述测试片的测试区的荧光强度，从而换算为待测物的数量。所述方法快捷、简便、成本低廉，而且灵敏度高，定量准确。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种测试片，其特征在于，该测试片包括：(i)可加入样品的加样区；(ii)位于加样区近端的结合区，所述结合区包含：一种或多种可流动的结合剂，所述结合剂中至少一种被吸光物质标记，所述结合剂能与待测物或其等同物结合形成含吸光物质的复合物；和可流动的检测剂，所述检测剂被荧光物质标记；(iii)位于结合区近端和加样区远端的测试区，所述测试区包含固定化的捕获剂，所述捕获剂用于捕获从结合区移动至测试区的含吸光物质的复合物和检测剂；和(iv)位于测试区近端和结合区远端的样品吸收区，其中吸收区具有吸收能力，从而使得加至加样区的样品从加样区扩散至末端样品吸收区；其中，当所述捕获剂捕获所述含吸光物质的复合物和检测剂时，所述吸光物质影响所述测试区的荧光强度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：庞磊，
类型：发明
国别省市：