存储器诊断装置、存储器诊断方法以及程序制造方法及图纸

将作为诊断对象的RAM（200）分割成n个（n为3以上的整数）基本区域，在安装有RAM（200）的系统中进行的周期处理的空闲时间中，从所分割的基本区域中选出两个基本区域，通过能够检测耦合故障的诊断方式对所选出的两个基本区域进行诊断，以后，在周期处理的每段空闲时间内反复地进行选出尚未被选出的基本区域对并对所选出的基本区域对进行诊断的动作，对全部的基本区域对实施诊断。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：市冈怜也，
申请(专利权)人：三菱电机株式会社，
类型：
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