比特失效模式统计方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种比特失效模式统计方法及装置，将获取的待处理存储器芯片单元的比特失效的原始数据利用Perl脚本进行分析和计算，不仅极大的降低了生产成本，又能够快速的统计出每批产品的比特失效模式结果，从而直观的展现出何种比特失效模式对产品的良率有着较大的影响，也就能够直指工艺缺陷，有利于有目的的改善制造工艺。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种比特失效模式统计方法，其特征在于，包括：获取待处理存储器芯片单元的比特失效的原始数据；利用Perl脚本分析所述原始数据；输出比特失效模式结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：魏文，
申请(专利权)人：上海华力微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：