一种射线检测用的曝光曲线制作方法技术

本发明专利技术公开了一种射线检测用的曝光曲线制作方法，其按以下步骤进行：1）在阶梯试块放置胶片和射线剂量仪；2）曝光；3）将上述曝光后的胶片清洗、晾干，用黑度计测量底片的黑度值，并读取与之对应的累积剂量，得到一组黑度值，然后找到一个基准黑度对应的累计计量值H；4）对某厚度待测试块在不同透照条件下进行透照，当看到累计计量值为H时停止透照，记录此时的曝光量；5）多次重复步骤4）得到多组不同透照条件下的曝光量；6）根据透照的某厚度待测试块的厚度、黑度值、透照条件即可做出曝光曲线。本发明专利技术方法基于黑度和曝光量的相对应关系，仅需冲洗一次胶片，即可作出曝光曲线，能节约大量的胶片，并且操作省时省力。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种射线检测用的曝光曲线制作方法，其特征在于：1）在阶梯试块（1）每个台阶（2）下面分别放置胶片（3）和射线剂量仪（4），射线计量仪（4）的累计数据清零，将增感屏放置于胶片（3）的下方，将像质计放置在射源侧的阶梯试块（1）上；2?）曝光：在射源、胶片、增感屏、暗室处理条件保持不变的情况下，固定曝光量对上述阶梯试块（1）进行透照；3）将上述曝光后的胶片清洗、晾干，得到底片，用黑度计测量阶梯试块（1）不同厚度的台阶(2)下面的底片的黑度值，并读取与之对应的射线计量仪(4)的累积剂量，得到一组黑度值，然后找到一个基准黑度对应的累计计量值H；4）对某厚度待测试块在不同透照条件下进行透照：去掉步骤1）当中的胶片，改变透照条件管电压，并按上述步骤1）的方法对某厚度待测试块进行透照，当看到累计计量值为H时停止透照，记录此时的曝光量；5）多次重复步骤4）得到多组不同透照条件下的曝光量；?6）根据透照的某厚度待测试块的厚度、黑度值、透照条件即可做出曝光曲线。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘长福，牛晓光，郝晓军，赵继峰，
申请(专利权)人：国家电网公司，河北省电力公司电力科学研究院，河北省电力建设调整试验所，
类型：发明
国别省市：