分析检测钽及钽基化合物中三十种杂质元素的方法技术

本发明专利技术公开了一种一次分析检测钽及钽基化合物中三十种杂质元素的方法，依次包括：制备载体，光谱纯碳粉+氟化钠=94%+6%；标样及试样制备；按2:1称样比，称取标样或试样和载体，一起混合磨匀；确定纯石墨电极材质并加工成型；确定直流电弧工作电流、积分时间、电极间距，阳极激发，直读光谱一次测定钽中三十种杂质元素铁、铝、硅、锰、镁、镍、钛、钒、钴、铅、铋、锡、锆、锑、铜、钙、铬、铌、钼、钇、镓、钡、铟、银、砷、铼、锌、铪、镉、碲的量；本发明专利技术不需要溶样，大大加快了样品的准备和分析速度，不需要对样品进行稀释，也能获得了比较低的分析下限，且结果稳定，自动化程度高，提高了工作效率。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种分析检测钽及钽基化合物中三十种杂质元素的方法，依次包括以下步骤：（1）制备载体；（2）制备标样及试样；（3）按一定称样比，称取标样或试样和载体，一起混合磨匀；（4）确定电极材质与形状并加工成型；（5）确定直流电弧工作条件，阳极激发，直读光谱一次测定钽及钽基化合物中三十种杂质元素——铁、铝、硅、锰、镁、镍、钛、钒、钴、铅、铋、锡、锆、锑、铜、钙、铬、铌、钼、钇、镓、钡、铟、银、砷、铼、锌、铪、镉、碲的量。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：颜晓华，彭宇，张蕾，李林元，
申请(专利权)人：株洲硬质合金集团有限公司，
类型：发明
国别省市：