【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
MEMS扫描2μm激光外差干涉仪光学系统,其特征在于:包括2μm光纤激光器(1)、光纤分束器(2)、声光移频器(3)、格林透镜(4)、第一透镜(5)、第二透镜(6)、偏振分束棱镜(7)、λ/4波片(8)、MEMS阵镜(9)、F?Theta透镜(10)、反射镜(11)、光纤接收准直器(12)、衰减器(13)、光纤合束器(14)、在线式起偏器(15)、光电探测器(16)、示波器(17);2μm光纤激光器(1)通过光纤分束器(2)分为测试光束和参考光束,测试光束通过声光移频器(3)、格林透镜(4)将测试光束从光纤空间转移到自由空间,而后依次经过第一透镜(5)、第二透镜(6)、偏振分束棱镜(7)、λ/4波片(8)、MEMS阵镜(9)、F?Theta透镜(10)后到达反射镜(11),经反射镜(11)反射后测试光束沿原光路返回至偏振分束棱镜(7);偏振分束棱镜(7)将返回的测试光束反射进光纤接收准直器(12);从光纤分束器(2)分束出来的参考光束经衰减器(13)后与从光纤接收准直器(12)输出的光束共同耦合进光纤合束器(14),而后经过在线式起偏器(15)使两束光偏振状态保持一致,再经光电探测器( ...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:高龙,郑永超,陶宇亮,王遨游,
申请(专利权)人:北京空间机电研究所,
类型:发明
国别省市:
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