一种嵌段共聚物胶束化临界选择性溶剂含量的测定方法技术

一种嵌段共聚物胶束化临界选择性溶剂含量的测定方法，涉及嵌段共聚物。提供设备简单、易于操作、灵敏度高的一种嵌段共聚物胶束化临界选择性溶剂含量的测定方法。1)将嵌段共聚物溶于溶剂中，搅拌至嵌段共聚物完全溶解，得嵌段共聚物溶液；2)在磁搅拌条件下向步骤1)得到的嵌段共聚物溶液中逐次添加选择性溶剂，直至嵌段共聚物溶液出现浑浊，所用的选择性溶剂量即为估测的胶束化临界选择性溶剂添加量；3)往荧光比色皿中倒入步骤1)所得的嵌段共聚物溶液，在磁搅拌条件下向嵌段共聚物溶液中连续逐次滴加选择性溶剂，直至嵌段共聚物溶液出现浑浊，每滴加一次同时测试嵌段共聚物溶液的荧光光谱；4)测定胶束化临界选择性溶剂含量。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种嵌段共聚物胶束化临界选择性溶剂含量的测定方法，其特征在于包括如下步骤：1)将嵌段共聚物溶于溶剂中，搅拌至嵌段共聚物完全溶解，得嵌段共聚物溶液；2)在磁搅拌条件下向步骤1)得到的嵌段共聚物溶液中逐次添加选择性溶剂，直至嵌段共聚物溶液出现浑浊，所用的选择性溶剂量即为估测的胶束化临界选择性溶剂添加量；3)往荧光比色皿中倒入步骤1)所得的嵌段共聚物溶液，在磁搅拌条件下向嵌段共聚物溶液中连续逐次滴加选择性溶剂，直至嵌段共聚物溶液出现浑浊，每滴加一次同时测试嵌段共聚物溶液的荧光光谱；4)测定胶束化临界选择性溶剂含量，具体方法为：根据步骤3)所测的荧光光谱，绘制特征荧光峰光谱特性参数与选择性溶剂添加量关系曲线，曲线拐点所对应的选择性溶液的量即为胶束化临界选择性溶剂含量；此外，还可根据荧光光谱的变化分析此嵌段共聚物自组装过程中大分子链的构象变化。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：罗伟昂，戴李宗，程玲，谢聪，曾碧榕，许一婷，何凯斌，刘新瑜，
申请(专利权)人：厦门大学，
类型：发明
国别省市：