【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种可调波片式偏振干涉成像光谱仪，其特征在于：所述可调波片式偏振干涉成像光谱仪包括第一检偏器、延迟量调节装置、第二检偏器以及光学成像探测系统；所述第一检偏器、延迟量调节装置以及第二检偏器依次设置在同一光轴上；所述光学成像探测系统与第二检偏器设置在同一光路上。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：马臻，李英才，李旭阳，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：
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