用于使用X射线分析在对象中的受关注区域的方法和设备技术

技术编号：9064596 阅读：198 留言：0更新日期：2013-08-22 03:54

一种用于分析对象中的受关注的区域的方法和设备。该方法包括：（a）通过微分相衬X射线成像系统提供测量数据，以及（b）分析受关注的区域中的对象的特性。其中，测量数据包括像素的2维或3维集合，其中针对每个像素，测量数据包括在空间上彼此对齐的三种类型的图像数据，包括（i）吸收表示图像数据A，（ii）微分相衬表示图像数据D，（iii）相干性表示图像数据C。针对每个像素，分析步骤是基于包括在吸收表示图像数据A中的信息和包括在微分相衬表示图像数据D中的信息以及包括在相干性表示图像数据C中的信息中的至少两种信息的组合。