一种终端天线TRP快速测试方法技术

技术编号:9060000 阅读:398 留言:0更新日期:2013-08-21 23:14
一种终端天线TRP快速测试方法,用于OTA暗室测试中测试终端天线辐射性能,放置在暗室转台上的终端以每个Theta角度和Phi角度不同的天线极化方向作为一个测试点测试某一信道的功率以得到相应的测试点的ERP,并生成发射功率强度方向图;根据发射功率强度方向图查找最好的Theta角度和Phi角度下的天线极化方向并测量待测信道的,将所有进行积分计算获得终端天线的TRP,本发明专利技术方法简化了每个转台Theta角度和Phi角度下两种天线极化方向上ERP的生成过程,修正使得测试结果更加精确,算法的精简也提高了TRP的测量效率,降低了测试成本。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种终端天线TRP快速测试方法,用于OTA暗室测试中测试终端天线辐射性能,其特征在于,包括如下步骤:A、将终端放置在暗室转台上,通过天线连接基站仿真器,基站仿真器的发射信号通过暗室测量天线发送给终端,终端的接收系统接收所述基站仿真器的发射信号并解码,基站仿真器的工作信道设为任意一个待测信道;B、将终端依次转动到不同的转台Theta角度和Phi角度,每个Theta角度和Phi角度上均对应调整天线极化方向,以每个Theta角度和Phi角度不同的天线极化方向作为一个测试点,测试每个测试点在某一信道的功率得到相应的测试点的ERP;C、将所有测试点的ERP组成终端天线的发射功率强度方向图并保存;D、根据所述终端天线的发射功率强度方向图查找最好的Theta角度和Phi角度下的天线极化方向,并将暗室转台转到该Theta角度和Phi角度下的天线极化方向测量所有待测信道的ERP,然后将该ERP补偿上暗室的路径损耗作为最好Theta角度和Phi角度下的天线极化方向待测信道的ERP,表达为????????????????????????????????????????????????;E、各个待测信道的每个Theta角度和Phi角度的ERP表达为,根据公式计算得出,其中是所述发射功率强度方向图中待测信道在最好测试点上的发射功率,是所述发射功率强度方向图的待测信道在当前转台Theta角度和Phi角度下天线极化方向的ERP,将所有根据公式进行积分计算获得终端天线的TRP,其中N是转台Theta角度的测试点数,M是转台Phi角度的测试点数,θ、Φ分别为Theta角度和Phi角度。345597dest_path_image001.jpg,2013101585361100001dest_path_image002.jpg,680764dest_path_image003.jpg,2013101585361100001dest_path_image004.jpg,347369dest_path_image005.jpg,2013101585361100001dest_path_image006.jpg,426183dest_path_image007.jpg...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:白剑
申请(专利权)人:惠州TCL移动通信有限公司
类型:发明
国别省市:

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