【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种基于BIM的测绘放样系统，其特征在于，包括处理器、BIM数据存储器、显示器、终端控制器以及测绘终端，所述的处理器分别连接BIM数据存储器、显示器和终端控制器，所述的测绘终端与终端控制器连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：邢磊，于晓明，赵民琪，陆兰馨，
申请(专利权)人：上海上安机电设计事务所有限公司，
类型：发明
国别省市：
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