全面测试系统技术方案

技术编号:9051786 阅读:204 留言:0更新日期:2013-08-15 19:32
本实用新型专利技术涉及全面测试系统,包括耦合器,分别与中心局光线路终端以及最终用户光网络终端连接;光电探测器组,所述光电探测器组与所述耦合器连接;信号处理电路,所述信号处理电路与所述光电探测器组连接。本实用新型专利技术全面测试系统由于从通讯线路中分出10%的信号对于通讯线路的影响更小,光信号经过仪表后的插入损耗更小;其次,由于采用了双光电探测器,其代替了分路器+带通滤波器+检测器的共同作用,大大简化了仪表内部的光路设计,从一定程度上降低了成本。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
全面测试系统,其特征在于,包括:?耦合器,分别与中心局光线路终端以及最终用户光网络终端连接;?光电探测器组,所述光电探测器组与所述耦合器连接;?信号处理电路,所述信号处理电路与所述光电探测器组连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:汪翔
申请(专利权)人:上海宝景信息技术发展有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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