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一种适用于VLSI片上时钟系统的偏斜检测和去偏斜调节电路技术方案

技术编号:9035686 阅读:161 留言:0更新日期:2013-08-15 02:27
本发明专利技术属于超大规模集成电路的片上时钟技术领域,具体为一种适用于VLSI片上时钟系统的偏斜检测和去偏斜调节电路。本发明专利技术由早相位检测模块、偏移量检测模块、转码电路、可配置延时电路和两个二选一的数据选择器组成;早相位检测模块用来检测两路时钟相位的先后性,输出信号送给两个数据选择器,两路时钟经过偏移量检测模块检测出实际偏移量,再经转码电路转码后控制可配置延时电路,将相位更早的时钟往后推迟偏移量个相位,以确保输出为边沿对齐、偏移去除的两相时钟。本发明专利技术实现了基于标准单元库的半定制设计电路,具有逻辑简单、精度可控、灵活性好等优点,与现行通用的基于硬件描述语言(HDL)输入的数字集成电路设计流程兼容。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种适用于VLSI片上时钟系统的偏斜检测和去偏斜调节电路,其特征在于由早相位检测模块、偏移量检测模块、转码电路、可配置延时电路和两个二选一的数据选择器组成;当有两路有偏斜的时钟输入时,早相位检测模块用来检测两路时钟相位的先后性,输出信号送给两个二选一的数据选择器(MUX),其中,第一数据选择器(MUX_0)用来选择相位较晚的时钟,?第二数据选择器(MUX_1)用来选择相位较早的时钟;第二数据选择器(MUX_1)的输出与可配置延时电路相连,两路时钟经过偏移量检测模块检测出实际偏移量,再经转码电路转码后控制可配置延时电路,将相位更早的时钟往后推迟偏移量个相位,以确保输出为边沿对齐、偏移去除的两相时钟。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:虞志益林杰周炜
申请(专利权)人:复旦大学
类型:发明
国别省市:

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