一种磁卡的内部磁场检测系统技术方案

本发明专利技术涉及一种磁卡的内部磁场检测系统，其包括微处理器、高精度磁场传感器、D/A模块、差分电路运算放大模块、LCD显示模块以及语音提示模块；其中，所述高精度磁场传感器、D/A模块、差分电路运算放大模块、微处理器以及LCD显示模块依次连接；所述语音提示模块亦连接于微处理器上。本发明专利技术的磁卡的内部磁场检测系统通过微处理器强大控制性，具有检测数据传送率高、检测较方便等优点，可以迅速定量获得检测的信息。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种磁场检测系统，具体涉及一种磁卡的内部磁场检测系统，属于磁场检测

技术介绍
目前，随着电子技术的飞速发展，现代电子产品几乎渗透了社会的各个领域，包括磁场检测领域。通常情况下，磁卡的内部磁场检测采用试刷法，但这种方法无法准确判断是磁卡消磁或者磁卡内部芯片损坏。因此，为解决上述技术问题，确有必要提供一种新型的磁卡的内部磁场检测系统，以克服现有技术中的所述缺陷。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术的目的在于提供一种检测数据传送率高、检测方便快速的磁卡的内部磁场检测系统。为实现上述目的，本专利技术采取的技术方案为:一种磁卡的内部磁场检测系统，其包括微处理器、高精度磁场传感器、D/A模块、差分电路运算放大模块、LCD显示模块以及语音提示模块；其中，所述高精度磁场传感器、D/A模块、差分电路运算放大模块、微处理器以及IXD显示模块依次连接；所述语音提示模块亦连接于微处理器上。本专利技术的磁卡的内部磁场检测系统进一步设置为:所述LCD显示模块为16寸的IXD显示模块。与现有技术相比，本专利技术具有如下有益效果:本专利技术的磁卡的内部磁场检测通过微处理器强大控制性，具有检测数据传送率高、检测较方便等优点，可以迅速定量获得检测的信息。附图说明图1是本专利技术的磁卡的内部磁场检测系统的原理图。具体实施例方式请参阅说明书附图1所示，本专利技术为一种磁卡的内部磁场检测系统，其由微处理器1、高精度磁场传感器2、D/A (数字/模拟)模块3、差分电路运算放大模块4、IXD显示模块5以及语音提示模块6等几部分组成。其中，所述高精度磁场传感器2、D/A模块3、差分电路运算放大模块4、微处理器I以及IXD显示模块5依次连接。所述微处理器I类型为AVR。所述高精度磁场传感器2核心芯片为MMLD47F。所述D/A模块3核心芯片为ADC0809。所述IXD显示模块5为16寸的IXD显示模块5。所述语音提示模块6亦连接于微处理器I上。本专利技术的磁卡的内部磁场检测系统的工作原理如下:D/A模块3将高精度磁场传感器2的磁场信号转换成数字信号后，经差分电路运算放大模块4将数字放大后传输给微处理器1，进行数据的进一步定量分析。所述LCD显示模块5用于将定量分析的数据显示出来。所述语音提示模块6用于将微处理器I处理的结果语音播报出来。以上的具体实施方式仅为本创作的较佳实施例，并不用以限制本创作，凡在本创作的精神及原则之内所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本创作的保护范围之内 。权利要求1.一种磁卡的内部磁场检测系统，其特征在于:包括微处理器、高精度磁场传感器、D/A模块、差分电路运算放大模块、LCD显示模块以及语音提示模块；其中，所述高精度磁场传感器、D/A模块、差分电路运算放大模块、微处理器以及LCD显示模块依次连接；所述语音提示模块亦连接于微处理器上。2.如权利要求1所述的磁卡的内部磁场检测系统，其特征在于:所述LCD显示模块为16寸的IXD显示模块。全文摘要本专利技术涉及一种磁卡的内部磁场检测系统，其包括微处理器、高精度磁场传感器、D/A模块、差分电路运算放大模块、LCD显示模块以及语音提示模块；其中，所述高精度磁场传感器、D/A模块、差分电路运算放大模块、微处理器以及LCD显示模块依次连接；所述语音提示模块亦连接于微处理器上。本专利技术的磁卡的内部磁场检测系统通过微处理器强大控制性，具有检测数据传送率高、检测较方便等优点，可以迅速定量获得检测的信息。文档编号G06K19/07GK103246911SQ201310168799公开日2013年8月14日 申请日期2013年5月9日 优先权日2013年5月9日专利技术者朱国辉, 刘孝军 申请人:徐州远洋磁性材料有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁卡的内部磁场检测系统，其特征在于：包括微处理器、高精度磁场传感器、D/A模块、差分电路运算放大模块、LCD显示模块以及语音提示模块；其中，所述高精度磁场传感器、D/A模块、差分电路运算放大模块、微处理器以及LCD显示模块依次连接；所述语音提示模块亦连接于微处理器上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：朱国辉，刘孝军，
申请(专利权)人：徐州远洋磁性材料有限公司，
类型：发明
国别省市：