一种服务器DDR3内存插槽的信号测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种服务器DDR3内存插槽的信号测试治具，包括一测试卡，所述测试卡采用DDR3内存条的结构，两端设置有安装所用的安装孔和卡扣，下端设置有金手指，其长度与DDR3内存条的长度相同宽度不大于DDR3内存条的宽度，所述测试卡上设置有地址线测试区域、供电电源测试过孔、若干数据线测试区域和若干时钟测试点，同时在测试卡的一端还设置有系统管理总线测试区域。使用该测试治具，可以方便的检测主板内存信号的输出情况，快速地排查出内存槽信号问题，进而快速判断出故障电路，使得维修工作方便易行。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及到计算机测试
，具体地说是一种服务器DDR3内存插槽的信号测试治具。
技术介绍
在电脑维修过程中，需要用万用表测量主板上的各个测试点的电压及电阻，但这些测试点的分布很分散，且不容易记住。往往需要查阅大量资料来寻找各种关键测试点，且花费大量时间来记住各个测试点，这样操作起来比较费时费力，测试工作非常繁琐。
技术实现思路
本技术针对现有技术存在的不足之处，公开一种服务器DDR3内存插槽的信号测试治具。本技术所公开的服务器DDR3内存插槽的信号测试治具，可以方便的检测服务器主板内存信号的输出情况，其技术方案如下:包括一测试卡，所述测试卡采用DDR3内存条的结构，两端设置有安装所用的安装孔和卡扣，下端设置有金手指，且其长度与DDR3内存卡的长度相同宽度不大于DDR3的宽度，同时所述测试卡上设置有地址线测试区域、供电电源测试过孔、若干数据线测试区域和若干时钟测试点，在测试卡的一端还设置有系统管理总线测试区域。进一步，所述测试卡上的所有测试区域和时钟测试点均包含若干过孔。本技术公开的服务器DDR3内存插槽的信号测试治具具有的有益效果是:使用该测试治具，可以方便的检测服务器主板内存信号的输出情况，快速地排查出内存槽信号问题，进而快速判断出故障电路，`使得维修工作方便易行。附图说明附图1为本技术实施例的正面俯视图；附图2为本技术实施例的背面俯视图；附图标注说明:1、测试卡；2、安装孔；3、卡扣；4、金手指；5、时钟测试点；6、供电电源测试过孔；7、数据线测试区域；8、地址线测试区域；9、系统管理总线测试区域。具体实施方式以下结合附图和实施例，对本技术所公开的服务器DDR3内存插槽的信号测试治具做进一步详细说明。实施例:本实施例中所述服务器DDR3内存插槽信号测试治具，其结构如图1和图2所示。该信号测试治具为一测试卡I，所述测试卡I的外形结构与DDR3内存条的外形结构吻合，两端设置有安装孔2和卡扣3，下端设置有金手指4，此外所述测试卡I的长度与DDR3内存卡的长度相同，宽度小于DDR3内存卡的宽度。本实施例中，所述测试卡I上设置有三个时钟测试点5、两个供电电源测试过孔6、两个数据线测试区域7和一个地址线测试区域8，且所述测试卡I的一端还设置有一个系统管理总线测试区域9。进一步，所述测试卡I上的所有测试区域和时钟测试点均包含若干过孔。同时在本实施例中，所述三个时钟测试点5和两个供电电源测试过孔6设置在同一水平位置，所述两个数据线测试区域7和一个地址线测试区域8设置在同一水平位置，且地址线测试区域8设置于两个数据线测试区域7之间。且在本实施例中所述数据线测试区域7所在位置较所述时钟测试点5靠近下端金手指4，这种设计缩短了连接距离。除本实施例所述情况外，所述时钟测试区域、供电电源测试区域、数据线测试区域和地址线测试区域的个数均可根据实际需求进行改变，同时各个测试区域的位置也可有别的设置方式，只要能满足DDR3内存插槽信号测试的需求即可。本技术所公开的DDR3内存插槽信号测试治具，是一款针对主板芯片级维修的辅助工具。使用时，该测试治具模拟DDR3内存条的安装方式，安插在内存插槽中，能将插槽上的信号引伸出来 ；并且通过该测试治具，在PCB板上能将插槽的重要信号进行归类，然后以过孔的形式做成了不同测试区域。该测试治具中，时钟测试点用于取得时钟信号，供电电源测试过孔用于取得电源电压、电阻等信号，数据线测试区域用于取得数据线信号，地址线测试区域用于取得地址线信号，系统管理总线测试区域用于取得复位信号。这样通过万用表等工具快速测量测试治具上的测试区域和测试点信号，能快速判断出故障电路，使得维修工作方便易行，而不需浪费时间去记那些难记的测试点，也不需为找各种测试点到处查阅资料，使得维修工作方便易行。除本技术所述的技术特征外，均为本专业技术人员的已知技术。权利要求1.一种服务器DDR3内存插槽的信号测试治具，其特征在于，包括一测试卡，所述测试卡采用DDR3内存条的结构，两端设置有安装所用的安装孔和卡扣，下端设置有金手指，且其长度与DDR3内存条的长度相同宽度不大于DDR3内存条的宽度，同时所述测试卡上设置有地址线测试区域、供电电源测试过孔、若干数据线测试区域和若干时钟测试点，在测试卡的一端还设置有系统管理总线测试区域。2.根据权利要求1所述的信号测试治具，其特征在于，所述测试卡上的所有测试区域和时钟测试点 均包含若干过孔。专利摘要本技术公开了一种服务器DDR3内存插槽的信号测试治具，包括一测试卡，所述测试卡采用DDR3内存条的结构，两端设置有安装所用的安装孔和卡扣，下端设置有金手指，其长度与DDR3内存条的长度相同宽度不大于DDR3内存条的宽度，所述测试卡上设置有地址线测试区域、供电电源测试过孔、若干数据线测试区域和若干时钟测试点，同时在测试卡的一端还设置有系统管理总线测试区域。使用该测试治具，可以方便的检测主板内存信号的输出情况，快速地排查出内存槽信号问题，进而快速判断出故障电路，使得维修工作方便易行。文档编号G06F11/22GK203102256SQ20132010588公开日2013年7月31日 申请日期2013年3月8日 优先权日2013年3月8日专利技术者任华进, 魏广兰 申请人:浪潮电子信息产业股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种服务器DDR3内存插槽的信号测试治具，其特征在于，包括一测试卡，所述测试卡采用DDR3内存条的结构，两端设置有安装所用的安装孔和卡扣，下端设置有金手指，且其长度与DDR3内存条的长度相同宽度不大于DDR3内存条的宽度，同时所述测试卡上设置有地址线测试区域、供电电源测试过孔、若干数据线测试区域和若干时钟测试点，在测试卡的一端还设置有系统管理总线测试区域。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：任华进，魏广兰，
申请(专利权)人：浪潮电子信息产业股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：