【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及分析检测领域，尤其涉及。
技术介绍
荧光材料的量子产率是其最基本和重要的性质参数。理论上量子产率定义为发射总光子数与吸收总光子数之比。目前，测定量子产率的直接方法有积分球法、热透镜法、光声光谱法等，这些方法需要直接测定光子数的专业仪器，一般的实验室很难进行。测定量子产率的间接方法有传统光谱参比法，这类方法简单快速，花费低，但是由于光谱测量需要高浓度样品溶液，其碰撞淬灭、重吸收、及内滤光效应降低了测量的准确性。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于，提供，可以精确的测试量子产率。为了解决上述技术问题，本专利技术的实施例提供了，用于测试待测样品的量子产率Q，包括:提供一量子产率为Qr的参比样品；提供折射率为的第一溶剂和折射率为η的第二溶剂，将所述参比样品溶于所述第一溶剂，制备得到参 比样品溶液/胶体，将所述待测样品溶于所述第二溶剂，制备得到待测样品溶液/胶体；测试所述参比样品溶液/胶体和所述待测样品溶液/胶体的吸收光谱，获得所述参比样品溶液/胶体的吸光度K,和所述待测样品溶液/胶体的吸光度A ；分别稀释所述参比样品溶液/胶体和所述待测样品溶液/胶体，制备得到稀释因子为I；的参比样品稀释液，和稀释因子为T的待测样品稀释液；测试所述参比样品稀释液和所述待测样品稀释液的荧光图像，获得所述参比样品稀释液的荧光图像的分子或粒子个数凡和单个分子或粒子的荧光强度Ip和所述待测样品稀释液的荧光图像的分子或粒子个数N和单个分子或粒子的荧光强度I ;根据获得的上述参数，计算单分子水平下量子产率Q如下:
【技术保护点】
一种量子产率的测试方法，用于测试待测样品的量子产率Q，其特征在于，包括：提供一量子产率为Qr的参比样品；提供折射率为nr的第一溶剂和折射率为n的第二溶剂，将所述参比样品溶于所述第一溶剂，制备得到参比样品溶液/胶体，将所述待测样品溶于所述第二溶剂，制备得到待测样品溶液/胶体；测试所述参比样品溶液/胶体和所述待测样品溶液/胶体的吸收光谱，获得所述参比样品溶液/胶体的吸光度Ar，和所述待测样品溶液/胶体的吸光度A；分别稀释所述参比样品溶液/胶体和所述待测样品溶液/胶体，制备得到稀释因子为Tr的参比样品稀释液，和稀释因子为T的待测样品稀释液；测试所述参比样品稀释液和所述待测样品稀释液的荧光图像，获得所述参比样品稀释液的荧光图像的分子或粒子个数Nr和单个分子或粒子的荧光强度Ir，和所述待测样品稀释液的荧光图像的分子或粒子个数N和单个分子或粒子的荧光强度I；根据获得的上述参数，计算单分子水平下量子产率Q如下：Q=Qr×IIr×NNr×TTr×ArA×n2nr2.
【技术特征摘要】
1.一种量子产率的测试方法，用于测试待测样品的量子产率Q，其特征在于，包括: 提供一量子产率为Qr的参比样品； 提供折射率为^的第一溶剂和折射率为η的第二溶剂，将所述参比样品溶于所述第一溶剂，制备得到参比样品溶液/胶体，将所述待测样品溶于所述第二溶剂，制备得到待测样品溶液/胶体； 测试所述参比样品溶液/胶体和所述待测样品溶液/胶体的吸收光谱，获得所述参比样品溶液/胶体的吸光度K,和所述待测样品溶液/胶体的吸光度A ； 分别稀释所述参比样品溶液/胶体和所述待测样品溶液/胶体，制备得到稀释因子为Tr的参比样品稀释液，和稀释因子为T的待测样品稀释液； 测试所述参比样品稀释液和所述待测样品稀释液的荧光图像，获得所述参比样品稀释液的荧光图像的分子或粒子个数Nr和单个分子或粒子的荧光强度Ir，和所述待测样品稀释液的荧光图像的分子或粒子个数N和单个分子或粒子的荧光强度I ; 根据获得的上述参数，计算单分子水平下量子产率Q如下:2.如权利要求1所述的量子产率的测试方法，其特征在于，所述提供一量子产率为Qr的参比样品包括: 将所述待测样品溶于所述第二溶剂中，制备得到所述待测样品溶液/胶体，并测量所述待测样品溶液/胶体的吸收光谱和发射光谱，以查表择取所述参比样品，所述参比样品溶液/胶体的最大吸收峰所覆盖的范围与所述待测样品溶液/胶体的最大吸收峰所覆盖的范围一致，或所述参比样品溶液/胶体的最大发射峰所覆盖的范围与所述待测样品溶液/胶体的最大发射峰所覆盖的范围一致，所述参比样品溶液/胶体的量子产率为Qp3.如权利要求1所述的量子产率的测试方法，其特征在于，所述第一溶剂为水、乙醇、环己烷、氯仿或甲苯中的一种，所述第二溶剂为水、乙醇、环己烷、氯仿或甲苯中的一种。4.如权利要求1所述的量子产率的测试方法，其特征在于...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。