液晶模组背光源的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种液晶模组的测试装置。本实用新型专利技术所要解决的技术问题是提供一种能够便捷测试光学参数的液晶模组背光源的测试装置。采用的技术方案可概括为：液晶模组背光源的测试装置，包括基板（1）和盖板（2），所述基板（1）四周具有侧壁（3），侧壁（3）与基板（1）及盖板（2）形成一个中空的腔体，盖板（2）上设有测试点位（10）。本实用新型专利技术的有益效果是：能够快速准确地对不同尺寸的背光源的光学参数进行对比测试，节省时间，降低成本，使用方便，实用性强。本实用新型专利技术适用于液晶模组。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

Testing device for backlight module of liquid crystal module

The utility model relates to a testing device for a liquid crystal module. The technical problem to be solved by the utility model is to provide a test device for a backlight module of a liquid crystal module which can conveniently test optical parameters. The technical scheme can be summarized as follows: the testing device of liquid crystal backlight module, which comprises a substrate (1) and a cover plate (2), the substrate (1) having a side wall around the side wall (3), (3) and the substrate (1) and a cover plate (2) to form a hollow cavity cover (2) is arranged on the test point (10). The utility model has the advantages that the optical parameters of the backlight source with different sizes can be tested quickly and accurately, the time is saved, the cost is reduced, the use is convenient, and the practicability is strong. The utility model is suitable for a liquid crystal module.

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种液晶模组的测试装置，尤其是涉及一种液晶模组背光源的光学参数对比测试装置。
技术介绍
在液晶模组开发、生产和维修过程中，都需要对LED背光源进行测试，以检测其是否合格，进而才能开展其他相应的工作，例如，研发部门及质量管控部门需要对供应商提供的LED背光源进行光学参数测试。目前常用的方法是将LED背光源样品组装到液晶模组中，测试液晶模组的亮度、色坐标、色温等光学参数，以确认LED背光源是否满足性能要求。然而，此方法需完成液晶模组的组装，效率低。若LED背光源样品不合格，还需供应商重新制作样品送样进行检测，造成时间的浪费。目前，尚无用于液晶模组背光源的光学参数对比测试的装置。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种液晶模组背光源的测试装置，本装置可以为设计及测试人员提供一个方便的测试平台，及时获得液晶模组背光源的光学参数对比测试结果，可以提高产品的开发进度及LED背光源样品质量检验的速度。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是:液晶模组背光源的测试装置，包括基板和盖板，所述基板四周具有侧壁，侧壁与基板及盖板形成一个中空的腔体，盖板上设有测试点位。具体的，侧壁上部边缘设有挂钩，盖板边缘设有与挂钩匹配的挂钩槽。具体的，腔体内部设有与基板连接的支撑柱，支撑柱的高度与侧壁的高度相匹配。优选的，支撑柱的个数为至少两个。进一步的，支撑柱为间隔设置。具体的，腔体内部设有与基板连接的光源座。优选的，光源座的位置与测试点位的位置相对应。具体的，基板为矩形，基板对角线上设置有挡板。具体的，包括出线口，该出线口设置于侧壁、盖板或基板上。作为上述技术方案的优选方案，所述测试点位为至少两个。本技术的有益效果是:能够快速准确地对不同尺寸的背光源的光学参数进行对比测试，检验背光源的亮度、色度、均匀度等光学参数并及时获得测试数据，根据数据可以确定所测试的背光源是否符合要求，节省时间，降低成本，使用方便，实用性强。本技术适用于液晶模组。附图说明图1是本技术的结构示意图；其中，I为基板,2为盖板,3为侧壁,4为光源座,5为挂钩,6为挂钩槽,7为支撑柱，8为出线口，9为挡板，10为测试点位。具体实施方式以下结合附图对本技术进一步说明。如图1所示，本技术的液晶模组背光源的测试装置，包括基板I和盖板2，所述基板I四周具有侧壁3，侧壁3与基板I及盖板2形成一个中空的腔体，盖板2上设有测试点位10。盖板2的表面积大于或等于基板I的表面积，以使得盖板2能够完全覆盖基板I。盖板2包括扩散板和光学膜片，扩散板在保证高透光率的前提下，又增加了光扩散率，使整个板面形成一个均匀的发光面而不形成暗区，还可以支撑其他光学膜片不变形；光学膜片包括反射片、偏光片及增光片等。利用本装置可以对LED背光源进行光学参数测试，记录其亮度、色坐标和色温等参数值。当需要进行多组LED背光源对比测试时，只需要将第一组LED背光源取下后标注其位置，再将第二组LED背光源置于相同位置，进而将第三组及其他组的LED背光源置于相同位置进行光学参数测试。侧壁3上部的边缘设有挂钩5，盖板2边缘设有与挂钩5匹配的挂钩槽6，盖板2通过挂钩槽6及挂钩5与基板I连接固定，提高基板I与盖板2连接的稳固性。腔体内部设有与基板I连接的支撑柱7，支撑柱7的高度与侧壁3的高度相匹配。为了达到更好的支撑效果，所述支撑柱7的个数为至少两个。将支撑柱7间隔设置在腔体内，各个支撑柱7可以均匀地承受盖板2施加的压力，保证盖板2整体平衡稳定。腔体内部设有与基板I连接的光源座4。光源座4用于对LED背光源进行定位，使得每次对LED背光源进行光学参数测试时，各个LED背光源均处于同一位置。光源座4可以采用多种形式，如沟槽或是用线条圈定的区域等。光源座4的位置可以与测试点位10的位置相对应，以便使用光学仪表在测试点位10对光源座4处的背光源进行准确的光学参数测试。当基板I的形状为矩形时，其对角线上可以设置有挡板9。对LED背光源进行测试时，将LED背光源置于基板I对角线上的挡板9的一侧，可以对盖板2上形成均匀照射，保证光线均匀；挡板9可以更好地固定LED背光源，保证对不同LED背光源进行对比测试的时候，使得各个LED背光源都处于同一位置，增强定位效果。侧壁3、盖板2或基板I上设有出线口 8，LED背光源的点灯线通过出线口 8与外接电源相连。当点灯线接通外接电源后，就可以利用本装置对LED背光源进行光学参数测试。为了更好地评价测试所得的结果，在盖板2上设置至少两个测试点位10，从不同位置对LED背光源进行光学参数测试。在利用如图1的装置对LED背光源进行光学参数测试过程中，将待测试的LED背光源放置在光源座4上，利用双面胶固定LED背光源，使得LED背光源边缘靠紧挡板9，将LED背光源的边缘与光源座4的边缘对齐或是将LED背光源的中心与光源座4的中心对齐。可以保证多次测试时，LED背光源的位置未发生改变。LED背光源的点灯线通过出线口 8连接外接电源，点亮LED背光源，通过使用光学仪表在盖板2上的测试点位10进行光学参数测试，记录亮度、色坐标和色温等参数值。本装置适合于对不同尺寸、不同厚度、不同入光方式的LED背光源进行光学参数测试，可以提高产品的开发进度及样品质量检验进度等。在实际的研发过程中，利用本装置对已经量产的LED背光源进行检测，将得到的光学测试数据作为基准数据；然后利用本装置对后续导入的LED背光源样品进行测试，将得到的数据与基准数据对比，快速判断出LED背光源样品是否合格。在质量管控过程中，将利用本装置对低亮度合格的LED背光源检测所得到的光学测试数据作为基准数据，然后利用本装置对后续低亮度LED背光源样品进行测试，将得到的数据与基准数据对比得到偏差值，若偏离值超出一定范围，则不合格。本文档来自技高网...

【技术保护点】
液晶模组背光源的测试装置，其特征在于，包括基板（1）和盖板（2），所述基板（1）四周具有侧壁（3），侧壁（3）与基板（1）及盖板（2）形成一个中空的腔体，盖板（2）上设有测试点位（10）。

【技术特征摘要】
1.液晶模组背光源的测试装置，其特征在于，包括基板(I)和盖板(2)，所述基板(I)四周具有侧壁(3)，侧壁(3)与基板(I)及盖板(2)形成一个中空的腔体，盖板(2)上设有测试点位(10)。2.如权利要求1所述的液晶模组背光源的测试装置，其特征在于，侧壁(3)上部边缘设有挂钩(5 )，盖板(2 )边缘设有 与挂钩(5 )匹配的挂钩槽(6 )。3.如权利要求1所述的液晶模组背光源的测试装置，其特征在于，腔体内部设有与基板(I)连接的支撑柱(7)，支撑柱(7)的高度与侧壁(3)的高度相匹配。4.如权利要求3所述的液晶模组背光源的测试装置，其特征在于，支撑柱(7)的个数为至少两个。5.如权利要求4所述的液晶模组背光源的测...

【专利技术属性】
技术研发人员：伍强，杨伟茂，蔡志坚，
申请(专利权)人：四川长虹光电有限公司，
类型：实用新型
国别省市：