一种用于单晶晶棒测量的装置制造方法及图纸

技术编号:8975188 阅读:127 留言:0更新日期:2013-07-26 04:39
本实用新型专利技术涉及一种用于单晶晶棒测量的装置。普通的单晶晶棒测量时,需要经常性搬动晶棒,劳动强度很大,本实用新型专利技术用于单晶晶棒测量的装置就是结合晶棒尺寸设计个圆台,可旋转,在测量一侧的电性能后旋转圆台,即可测量另一侧的性能,无需搬动晶棒,从而大大降低员工的劳动强度,提高工作效率,使得用于单晶晶棒测量的装置更加方便快捷。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

Device for measuring single crystal stick

The utility model relates to a device for measuring a single crystal rod. Ordinary single crystal measuring stick, need to move the ingot, the labor intensity greatly, the utility model is used for single crystal device measuring stick is to design a platform, combined with the crystal size can be rotated in electrical performance measurement on one side of the rotating platform, the performance can be measured on the other side, without moving the crystal rod. Thus greatly reduce the labor intensity, improve work efficiency, make the device for single crystal rod measurement more convenient.

【技术实现步骤摘要】

本技术涉单晶晶棒少子寿命的测量用装置,特别是一种用于单晶晶棒测量的>J-U ρ α装直。
技术介绍
以现有的单晶方棒生产流程,在截断后需要测量头尾少子寿命、PN型、电阻率等多线参数,在测量过程中需要经常性搬动晶棒,由于晶棒质量较大,如正常长度为317_的晶棒,重为17kg,所以劳动强度很大。一种用于单晶切方搬运的装置有利于降低员工工作强度,提高工作效率。
技术实现思路
本技术提供一种通过结合晶棒尺寸设计个圆台,从而达到测量晶棒的方便与快捷。本技术的技术方案是:一种用于单晶晶棒测量的装置,其中:圆盘设置于连接轴上,底座设置于连接轴下,圆盘通过连接轴与底座活动连接。本技术的优点在于:普通的单晶晶棒测量时,需要经常性搬动晶棒,劳动强度很大,本技术用于单晶晶棒测量的装置就是结合晶棒尺寸设计个圆台,可旋转,在测量一侧的电性能后旋 转圆台,即可测量另一侧的性能,无需搬动晶棒,从而大大降低员工的劳动强度,提高工作效率,使得用于单晶晶棒测量的装置更加方便快捷。附图说明图1为本技术用于单晶晶棒测量的装置的左视图;图2为本技术用于单晶晶棒测量的装置的仰视图;附图标记:圆盘1、连接轴2、底座3。具体实施方式实施例1、一种用于单晶晶棒测量的装置,其中:圆盘I设置于连接轴2上,底座3设置于连接轴2下,圆盘I通过连接轴2与底座3活动连接。

【技术保护点】
一种用于单晶晶棒测量的装置,其特征在于:圆盘(1)设置于连接轴(2)上,底座(3)设置于连接轴(2)下,圆盘(1)通过连接轴(2)与底座(3)活动连接。

【技术特征摘要】
1.一种用于单晶晶棒测量的装置,其特征在于:圆盘(I)设置于连接轴(2)上,底座(...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨小刚刘小根
申请(专利权)人:晶科能源有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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