一种光谱测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种光谱测试装置及方法，该装置包括：积分球（501），中空且顶部设置有一个出光口，内壁涂有漫反射层，并且所述漫反射层的各点漫射均匀，将光线均匀地打散；光源（502），位于所述积分球（501）的球心处，在通电时发出光线；挡板（503），位于所述出光口和所述光源（502）之间，防止所述光源（502）发出的光线未经打散就从所述出光口射出；测试镜头（504），位于所述出光口上方，用于测试来自所述出光口的光线，获取其光谱，用以解决传统的背光源光谱测试方法不能直接测试光源，获取其光谱耗时较久的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光谱测试
，特别涉及。
技术介绍
在制造液晶显示器时，需要进行背光源光谱测试，获取背光源光谱，将其与面板的彩膜光谱匹配，针对模组Module (模组)状态下的白光以及RGB (red、Green、Blue,红绿蓝)画面下的色坐标、色域等进行模拟预测，根据模拟色坐标与中心色坐标(MNT:0.313，0.328 ；TV:0.280，0.290)的差距，可进一步确定 LED (Light Emitting Diode，发光二极管)灯条的中心色块，确定为满足色域等参数所需要采用的LED荧光粉等光源信息。在对液晶显示器进行分析时，通过背光源光谱测试可以在不破坏BLU (Back Light Unit，背光源)的情况下，预测所用的灯条的荧光粉等光学参数信息。传统的背光源光谱测试主要是通过光学测试镜头测试成品的背光源。图1为传统背光源/模组光谱测试示意图，其中，成品的背光源包括了 Back Cover (背板)l、RefleCt0r(反射片)2、LGP (light guide plate,导光板)3、LED Bar (LED 灯条)4、Mold Frame (胶框)5和Sheet (膜片)6，MDL (Module，模组)则包括了背光源、Bezel (金属边框)7、Panel湎板)8。图1 中的 LED 灯条 4 是光源[LED/CCFL (Cold Cathode Fluorescent Lamp,冷阴极荧光灯管)]中的一种，光源也称光源。膜片6是一种光学膜片。图1中，LED灯条4位于导光板3的侧边，LED灯条4发出的光经过导光板3的导光、反射片2的反射，以及膜片6的扩散和会聚后，比较均匀地透过面板8射出，保证光学画面质量。光学测试镜头9置于背光源中心正对的位置上，这样，通过光学测试镜头9就可以得到测试的背光源的光谱。采用图1中的这种传统的背光源光谱测试方法可以测量得到380nm 780nm范围内的可见光的光谱。模组状态下色度等光学参数主要受BLU光谱和面板上的CF(C0l0r Filter，彩膜)影响，其中CF位于上部的Glass (基板)上。图2为Panel (面板)结构示意图，面板包括:TFT (Thin Film Transistor,薄膜场效应晶体管)Glass (TFT 侧玻璃基板)11、Polarizer(TFT 侧偏光片)12、Polarizer (CF 侧偏光片)13、LC (liquid，液晶)14、CF Glass (CF 侧玻璃基板)15、Spacer (隔垫物)16、Sealant (封框胶)17和CF18。CF中影响到最终MDL光谱的主要是CF上的RGB三色Resin (光阻)。CF光谱一般可以在向生产厂家发出邀请后，从生产厂家处获取，而由于生产厂家只能够提供灯条光谱，而背光源中导光板、膜材等会对背光源的光谱的影响，导致背光源光谱和生产厂家所提供的灯条光谱并不一致。图3为某灯条的光谱(即L/B光谱，也就是光源的光谱)是Blue Chip (蓝光芯片)+Red, Green Phosphor (红绿荧光粉)的光谱。图4为某灯条光谱和加上导光板、膜材等之后的测试光谱(即BLU光谱，也就是背光源的光谱)，通过对比可知，BLU光谱和L/B光谱并不完全一样，二者在蓝光主波峰以及绿光、红光次波峰处存在差异，即光源的光谱和背光源的光谱并不一致，如果使用光源光谱进行模拟计算，会使MDL状态下的色度、色温等光学参数出现偏差，影响产品的最终质量和开发日程。通过上述分析可知，从生产厂家获取的光源光谱不能用于准确地预测面板状态下的光学参数，故而需要有效地对背光源中部品的光谱进行测试。图1中传统的背光源光谱测试方法由于只能针对成品的背光源进行光谱测试，如果还没有制成成品的背光源，将无法获取背光源光谱，而且一旦背光源的光源需要更换，或者光源中的荧光粉需要进行细微调整，光源的光谱就会发生较大变化，并且导致背光源光谱也随之发生变化，此时，就需要再次进行背光源光谱测试，因此，光谱测试效率较低。而且传统的光谱测试方法是针对制成成品的背光源进行光谱测试的，由于光源直接发出的光不是均匀的，因此，传统的光谱测试方法无法对光源进行光谱测试，而向光源的生产厂家发出邀请来获取光源的光谱的方式则耗时较久。
技术实现思路
本专利技术实施例提供，用以解决现有技术中存在的传统的背光源光谱测试方法不能直接测试光源，获取其光谱耗时较久的问题。本专利技术实施例提供了一种光谱测试装置，包括:积分球，中空且顶部设置有一个出光口，内壁涂有各点漫射均匀的漫反射层，将光线均匀地打散；光源，位于上述积分球的球心处，用于在通电时发出光线；挡板，位于上述出光口和上述光源之间，防止上述光源发出的光线未经打散就从上述出光口射出；测试镜头，位于上述出光口上方，测试来自上述出光口的光线，获取其光谱。本专利技术实施例还提供了一种光谱测试方法，包括:采用内壁涂有漫反射层的中空的积分球，将位于上述积分球球心处的光源在通电时所发出的光线均匀打散，并通过上述积分球顶部的出光口射出；采用位于上述出光口和上述光源之间的挡板，防止上述光源发出的未经打散就从上述出光口射出；采用位于上述出光口正上方的测试镜头，测试来自上述出光口的光线，获取上述光源的光谱。本专利技术实施例中，积分球中的漫反射层，能够将位于积分球球心处的光源发出的光线均匀地打散，然后从积分球顶部的出光口射出，而出光口和光源之间的挡板，则能够防止光源所发出的光线，未经打散就从出光口射出，这样，通过位于出光口正上方的测试镜头就能够测试来自出光口的光线，从而达到直接测试光源，快速地获取光源的光谱的目的，并且能够避免使用高级的装置测试光源，降低了光谱测试的成本。附图说明图1为传统的背光源测试装置示意图；图2为面板结构示意图；图3为某光源的光谱；图4为某光源光谱和加上导光板、膜材等之后的测试光谱的对比图；图5为本专利技术实施例设计的光谱测试装置示意图；图6为本专利技术实施例中采用光谱测试装置针对待测部品进行光谱测试的示意图；图7为本专利技术实施例中夹具的侧面示意图和正面示意图；图8为本专利技术实施例设计的光谱测试方法流程图。具体实施例方式本专利技术实施例设计了，该装置能够直接用于测试光谱，可以解决传统的背光源光谱测试方法只能针对成品的背光源进行光谱测试，不能直接测试光源，获取其光谱的问题，以及解决通过生产厂家获取光源的光谱耗时较久，通过高级装置测试光源的成本过高的问题。 下面结合附图说明本专利技术的优选实施例。本专利技术实施例设计的光谱测试装置，包括:积分球501，中空且顶部设置有一个出光口，内壁涂有各点漫射均匀的漫反射层，将光线均匀地打散；光源502,位于上述积分球501的球心处，在通电时发出光线； 挡板503，位于上述出光口和上述光源502之间，防止上述光源502发出的光线未经打散就直接从上述出光口射出；测试镜头504，位于上述出光口正上方，测试来自上述出光口的光线，获取其光谱。较佳地，将上述出光口设置为圆形。上述光谱测试装置能够用于快速测量光源的光谱，这样，即使需要选择一种新的光源，或者光源中荧光粉的量需要调整，仍然能够快速准确地通过上述光谱测试装置获取到新的光源的光谱。上述积分球又称通光球，其直径通常在l-2m之间，由于一般需要按照被测光源本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光谱测试装置，其特征在于，包括：积分球（501），中空且顶部设置有一个出光口，内壁涂有各点漫射均匀的漫反射层，将光线均匀地打散；光源（502），位于所述积分球（501）的球心处，在通电时发出光线；挡板（503），位于所述出光口和所述光源（502）之间，防止所述光源（502）发出的光线未经打散就从所述出光口射出；测试镜头（504），位于所述出光口上方，用于测试来自所述出光口的光线，获取其光谱。

【技术特征摘要】
1.一种光谱测试装置，其特征在于，包括: 积分球(501)，中空且顶部设置有一个出光口，内壁涂有各点漫射均匀的漫反射层，将光线均匀地打散； 光源(502),位于所述积分球(501)的球心处,在通电时发出光线； 挡板(503)，位于所述出光口和所述光源(502)之间，防止所述光源(502)发出的光线未经打散就从所述出光口射出； 测试镜头(504 )，位于所述出光口上方，用于测试来自所述出光口的光线，获取其光谱。2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述积分球(501)的直径与所述光源(502)的尺寸成正比，并且和所述光源(502)的功率成正比。3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述漫反射层的材料包括分析纯硫酸钡或烟熏氧化镁。4.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述挡板(503)和所述光源(502)之间的垂直距离为3/r，其中r为所述积分球(501)的半径。5.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测试镜头(504)和所述出光口之间的垂直距离为50cm。6.如权利要求1-5中任一项所 述的装置，其特征在于，还包括: 测试机台(505)，水平放置于所述积分球(501)上方，所述测试机台(505)上留有和所述出光口大小相同的孔，和所述出光口对齐贴合； 机台支柱(506),支撑所述测试机台(505)； 积分球支柱(507 ),支撑所述积分球(501)。7.如权...

【专利技术属性】
技术研发人员：颜凯，鹿堃，王贺陶，布占场，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：