一种用于1-6GHz辐射骚扰检测能力验证和比对的参考源，包括恒温晶振单元、第一谐波发生器、带通滤波器、放大器和第二谐波发生器；恒温晶振单元，用于产生固定频率的振荡信号；第一谐波发生器，用于产生一定基频的谐波；带通滤波器，用于将谐波发生器产生的谐波滤去固定频率以外的信号；放大器，用于将带通滤波器产生的信号进行放大；第二谐波发生器，用于产生固定基频的谐波；恒温晶振单元产生的振荡信号，经过第一谐波发生器后，进入带通滤波器，然后经过放大器后，经第二谐波发生器输出。本发明专利技术解决了现有技术中的输出电平不够大且稳定性不够的问题，提高了输出信号的电平和稳定性；结构简单，实施成本低廉。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术专利涉及能力验证领域，特别是用于进行实验室的辐射骚扰检测能力的验证或者不同实验室间的比对，尤其是涉及一种用于1-6GHZ辐射骚扰检测能力验证和比对的参考源。
技术介绍
辐射骚扰主要是指能量以电磁波形式由源发射到空间或能量以电磁波形式在空间传播的现象。辐射骚扰是电磁兼容的重要内容，也是测试最不容易通过且最难整改的项目，谈到电磁兼容测试不合格令人首先想到的就是辐射骚扰超标；辐射骚扰超标可能引起周围装置、设备或系统性能降低或者对有生命或无生命物质产生损害。对于要求严格的实验室来说，辐射骚扰能力是重要的实验室的重要指标之一，尤其是对于1-6GHZ频率范围内的辐射骚扰的测试，因此对实验室的辐射骚扰能力的验证或者将不同实验室间进行对比具有重要的意义。然而，现有技术中，实验室的辐射骚扰能力的验证或者将不同实验室间进行对比，往往用于比对的信号源的输出电平不够大和不够稳定，影响了验证或对比的准确性和可信性。
技术实现思路
本专利技术的目的在于设计一种新型的用于1-6GHZ辐射骚扰检测能力验证和比对的参考源，解决上述问题。为了实现上述目的，本专利技术采用的技术方案如下:一种用于1-6GHZ辐射骚扰检测能力验证和比对的参考源，包括恒温晶振单元、第一谐波发生器、带通滤波器、放大器和第二谐波发生器；所述恒温晶振单元，用于产生固定频率的振荡信号；所述第一谐波发生器，用于产生一定基频的谐波；所述带通滤波器，用于将所述谐波发生器产生的谐波滤去固定频率以外的信号；所述放大器，用于将所述带通滤波器产生的信号进行放大；所述第二谐波发生器，用于产生固定基频的谐波；所述恒温晶振单元产生的振荡信号，经过所述第一谐波发生器后，进入所述带通滤波器，然后经过所述放大器后，经所述第二谐波发生器输出。优选的，所述恒温晶振单元，为IOOMHz恒温晶振，用于产生IOOMHz的振荡信号；所述第一谐波发生器，为IOOMHz谐波发生器，用于产生基频为IOOMHz的谐波；所述带通滤波器，为IGHz带通滤波器，用于将所述谐波发生器产生的谐波滤去IGHz以外的信号；所述放大器，用于将所述带通滤波器产生的信号进行放大；所述第二谐波发生器，为IGHz恒温晶振，用于产生IGHz的谐波。优选的，还包括电源单元，所述恒温晶振单元、所述第一谐波发生器、所述带通滤波器、所述放大器和所述第二谐波发生器均与所述电源单位电连接。优选的，所述电源单元为稳压电源单元。优选的，所述电源单元为12V的稳压电源单元，用于为整个系统提供12V的稳压电源。本专利技术所谓的参考源是指，因本专利技术用来作为1-6G的辐射骚扰检测能力验证的样品，在不同的时间、地点和实验室的环境下，具有稳定的输出，考察各个不同实验室的测试数据和已有的标准数据(数据是不可能完全准确的，因此只能说是参考数据)进行比较，以评价实验室的能力，这样一个被赋予了 “参考数据”的样品，称之为“参考源”。在本专利技术中，所述恒温晶振单元产生的振荡信号，经过所述第一谐波发生器后，进入所述带通滤波器将所述谐波发生器产生的谐波滤去固定频率以外的信号后，进入放大器进行放大，然后经所述第二谐波发生器后输出。所述第一谐波发生器，可以为IOOMHz谐波发生器，用于产生基频为IOOMHz的谐波，比如 200MHz，300MHz，......1GHz, 1.1GHz......等；因此，本专利技术的有益效果如下:1，本专利技术解决了现有技术中的输出电平不够大且稳定性不够的问题，提高了输出信号的电平和稳定性。比如，本专利技术1G-6GHZ的最小输出是108dB，现有的产品的输出是60dB-97dB ;本专利技术稳定性在1.ldB，现有产品2dB以上。2，本专利技术结构简单，实施成本低廉。附图说明图1为本专利技术的结构示意图。具体实施例方式为了使本专利技术所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。如图1所示的一种用于1-6GHZ辐射骚扰检测能力验证和比对的参考源，包括恒温晶振单元、第一谐波发生器、带通滤波器、放大器和第二谐波发生器；所述恒温晶振单元，为IOOMHz恒温晶振，用于产生IOOMHz的振荡信号；所述第一谐波发生器，为IOOMHz谐波发生器，用于产生基频为IOOMHz的谐波；所述带通滤波器，为IGHz带通滤波器，用于将所述谐波发生器产生的谐波滤去IGHz以外的信号；所述放大器，用于将所述带通滤波器产生的信号进行放大；所述第二谐波发生器，为IGHz恒温晶振，用于产生IGHz的谐波；所述恒温晶振单元产生的振荡信号，经过所述第一谐波发生器后，进入所述带通滤波器，然后经过所述放大器后，经所述第二谐波发生器输出；所述的参考源还包括电源单元，所述恒温晶振单元、所述第一谐波发生器、所述带通滤波器、所述放大器和所述第二谐波发生器均与所述电源单位电连接，所述电源单元为12V的稳压电源单元，用于为整个系统提供12V的稳压电源。以上通过具体的和优选的实施例详细的描述了本专利技术，但本领域技术人员应该明白，本专利技术并不局限于以上所述实施例，凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。权利要求1.一种用于1-6GHZ辐射骚扰检测能力验证和比对的参考源，其特征在于:包括恒温晶振单元、第一谐波发生器、带通滤波器、放大器和第二谐波发生器； 所述恒温晶振单元，用于产生固定频率的振荡信号； 所述第一谐波发生器，用于产生一定基频的谐波； 所述带通滤波器，用于将所述谐波发生器产生的谐波滤去固定频率以外的信号； 所述放大器，用于将所述带通滤波器产生的信号进行放大； 所述第二谐波发生器，用于产生固定基频的谐波； 所述恒温晶振单元产生的振荡信号，经过所述第一谐波发生器后，进入所述带通滤波器，然后经过所述放大器后，经所述第二谐波发生器输出。2.根据权利要求1所述的用于1-6GHZ辐射骚扰检测能力验证和比对的参考源，其特征在于: 所述恒温晶振单元，为IOOMHz恒温晶振，用于产生IOOMHz的振荡信号； 所述第一谐波发生器，为IOOMHz谐波发生器，用于产生基频为IOOMHz的谐波； 所述带通滤波器，为IGHz带通滤波器，用于将所述谐波发生器产生的谐波滤去IGHz以外的信号； 所述放大器，用于将所述带通滤波器产生的信号进行放大； 所述第二谐波发生器，为IGHz恒温晶振，用于产生IGHz的谐波。3.根据权利要求1所述的用于1-6GHZ辐射骚扰检测能力验证和比对的参考源，其特征在于:还包括电源单元，所述恒温晶振单元、所述第一谐波发生器、所述带通滤波器、所述放大器和所述第二谐波发生器均与所述电源单位电连接。4.根据权利要求3所述的用于1-6GHZ辐射骚扰检测能力验证和比对的参考源，其特征在于:所述电源单元为稳压电源单元。5.根据权利要求4所述的用于1-6GHZ辐射骚扰检测能力验证和比对的参考源，其特征在于:所述电源单元为12V的稳压电源单元，用于为整个系统提供12V的稳压电源。全文摘要一种用于1-6GHz辐射骚扰检测能力验证和比对的参考源，包括恒温晶振单元、第一谐波发生器、带通滤波器、放大器和第二谐波发生器；恒温晶振单元，用于产生固定频率的振荡信号；第一本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于1?6GHz辐射骚扰检测能力验证和比对的参考源，其特征在于：包括恒温晶振单元、第一谐波发生器、带通滤波器、放大器和第二谐波发生器；所述恒温晶振单元，用于产生固定频率的振荡信号；所述第一谐波发生器，用于产生一定基频的谐波；所述带通滤波器，用于将所述谐波发生器产生的谐波滤去固定频率以外的信号；所述放大器，用于将所述带通滤波器产生的信号进行放大；所述第二谐波发生器，用于产生固定基频的谐波；所述恒温晶振单元产生的振荡信号，经过所述第一谐波发生器后，进入所述带通滤波器，然后经过所述放大器后，经所述第二谐波发生器输出。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：武彤，沈庆飞，周雪芬，徐定华，杜洪均，
申请(专利权)人：中国计量科学研究院，
类型：发明
国别省市：
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