本发明专利技术涉及一种旋转法布里-珀罗干涉镜测量激光波长的方法，用一个两表面互相平行的透明平面镜作干涉镜，把该干涉镜垂直放置固定在一水平转台上，将一束待测激光水平入射到垂直放置的干涉镜上；通过数据采集卡控制步进电机带动转台转动，使待测激光对干涉镜的入射角连续匀速改变；通过功率计连续记录待测激光各个入射角对应的透射激光功率；通过所述计算机编写界面，显示各个入射角对应的透过激光功率并绘制激光透过率随激光入射角变化的曲线；根据该曲线得到各个透过率峰值对应的激光入射角角度值，进而由相位差公式计算得出待测激光的波长。本发明专利技术操作简单，测量精确度较高，稳定性高，系统所用仪器取材方便、造价成本低，维护方便。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种测量激光波长的方法，具体地说是。
技术介绍
激光波长是激光器研究及应用中的重要参数之一，目前激光波长测量主要有光谱法、法布里-珀罗(Fabry-PeiOt)干涉法(简称F-P干涉)、迈克尔逊干涉法等等，这些测量方法所涉仪器一般体积较大、结构复杂，造价高，严重地制约了测量方法的使用和推广。目前采用F-P干涉法测量波长，主要采用平移法，其原理是改变F-P两个平行镜的间距，测量激光透过F-P干涉仪的透过率随F-P两个平行镜的间距变化的曲线，根据透过率曲线峰值之间对应的间距计算激光波长，但是这种测量方法要求F-P干涉仪的两片高反射率反射镜在移动过程中要严格保持平行，并且要求移动间距要均匀，因此平移法测量激光波长的方法要求系统精度高、结构复杂、造价高。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是克服上述现有技术的不足，提供一种操作简单，测量精确度较高，稳定性高，系统成本低的旋转法布里-珀罗干涉镜测量激光波长的方法。本专利技术解决上述技术问题采用的技术方案是:，其特征是:用一个两表面互相平行的透明平面镜作干涉镜，把该干涉镜垂直放置固定在一水平转台上，将一束待测激光水平入射到垂直放置的干涉镜上；通过有VB语言编程的计算机控制数据采集卡，由数据采集卡控制步进电机带动转台转动，使待测激光对干涉镜的入射角连续匀速改变；通过功率计接收透过干涉镜后的激光并测量激光功率，功率计连续记录待测激光各个入射角对应的透射激光功率；通过所述有VB语言编程的计算机编写界面，显示各个入射角对应的透过激光功率并绘制激光透过率随激光入射角变化的曲线；根据激光透过率随激光入射角变化的曲线得到各个透过率峰值对应的激光入射角角度值，进而由相位差公式计算得出待测激光的波长。本专利技术待测激光对干涉镜的入射角为-20°至+20°。本专利技术利用法布里-珀罗干涉原理测量激光波长，通过旋转法布里-珀罗干涉镜，使待测激光对干涉镜的入射角连续匀速改变，进而通过有VB语言编程的计算机进行数据处理和显示，准确得出待测激光的波长。对照现有技术，本专利技术操作简单，测量精确度较高，稳定性高，系统所用仪器取材方便、造价成本低，维护方便。具有很高的实用价值和广泛的应用前景。附图说明图1是本专利技术系统构成示意图。图中的标号为:1.干涉镜、2.转台、3.步进电机、4.数据采集卡、5.功率计、6.计算机。具体实施例方式下面结合附图对本专利技术作进一步说明。本专利技术，用一个两表面互相平行的透明平面镜作干涉镜1，干涉镜I可以用锗片两表面抛光制作，干涉镜I的厚度为1.2_。把该干涉镜I垂直放置固定在一圆形水平转台2的中央区域上，该转台2可以绕垂直中心轴转动。将一束待测激光水平入射到垂直放置的干涉镜I上，激光束在干涉镜I的两表面之间多次反射和部分透射。通过有VB语言编程的计算机6控制数据采集卡4，进而由数据采集卡4控制步进电机3带动并控制转台2转动，使待测激光对干涉镜I的入射角连续匀速改变，通过功率计5接收透过干涉镜后的激光并测量激光功率；功率计5连续记录待测激光各个入射角对应的透射激光功率；通过所述有VB语言编程的计算机6编写界面，显示各个入射角对应的透过激光功率并绘制激光透过率随激光入射角变化的曲线；根据激光透过率随激光入射角变化的曲线得到各个透过率峰值对应的激光入射角角度值，进而由相位差公式计算得出待测激光的波长。本专利技术所述待测激光对干涉镜I的入射角从-20°到+20°，转台转动稳定，并在控制之下匀速转动且转速适当，以保证功率计和控制及成像系统有足够的时间完成同步的记录透过率随入射角变化的曲线。本专利技术旋转法布里-珀罗干涉镜测量激光波长的方法所使用器件有干涉镜1、转台2、步进电机3、数据采集卡4、功率计5、计算机6。本专利技术所涉及的器件均为通用器件，在此不再详细介绍。本专利技术旋转法布里-珀罗干涉镜测量激光波长的方法的工作原理是:激光束在干涉镜I锗片两表面之间经过多次反射和透射，设空气中入射角为A，干涉镜I锗片内的折射角为U，干涉镜I的锗片折射率为/ 2，设锗片厚度为h，表面的反射率为R，入射光振幅为Atl，根据折射定律，则干涉镜I前表面透射光的振幅为Vl—MAv，第一次在后表面反射的振幅权利要求1.，其特征是:用一个两表面互相平行的透明平面镜作干涉镜，把该干涉镜垂直放置固定在一水平转台上，将一束待测激光水平入射到垂直放置的干涉镜上；通过有VB语言编程的计算机控制数据采集卡，由数据采集卡控制步进电机带动转台转动，使待测激光对干涉镜的入射角连续匀速改变；通过功率计接收透过干涉镜后的激光并测量激光功率，功率计连续记录待测激光各个入射角对应的透射激光功率；通过所述有VB语言编程的计算机编写界面，显示各个入射角对应的透过激光功率并绘制激光透过率随激光入射角变化的曲线；根据激光透过率随激光入射角变化的曲线得到各个透过率峰值对应的激光入射角角度值，进而由相位差公式计算得出待测激光的波长。2.根据权利要求1所述的旋转法布里-珀罗干涉镜测量激光波长的方法，其特征是:所述待测激光对干涉镜的入射角为-20°至+20°。全文摘要本专利技术涉及，用一个两表面互相平行的透明平面镜作干涉镜，把该干涉镜垂直放置固定在一水平转台上，将一束待测激光水平入射到垂直放置的干涉镜上；通过数据采集卡控制步进电机带动转台转动，使待测激光对干涉镜的入射角连续匀速改变；通过功率计连续记录待测激光各个入射角对应的透射激光功率；通过所述计算机编写界面，显示各个入射角对应的透过激光功率并绘制激光透过率随激光入射角变化的曲线；根据该曲线得到各个透过率峰值对应的激光入射角角度值，进而由相位差公式计算得出待测激光的波长。本专利技术操作简单，测量精确度较高，稳定性高，系统所用仪器取材方便、造价成本低，维护方便。文档编号G01J9/02GK103196569SQ201310140099公开日2013年7月10日 申请日期2013年4月22日 优先权日2013年4月22日专利技术者田兆硕, 孙正和, 张延超, 付石友, 孙剑锋, 王骐 申请人:哈尔滨工业大学(威海)本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种旋转法布里?珀罗干涉镜测量激光波长的方法，其特征是：用一个两表面互相平行的透明平面镜作干涉镜，把该干涉镜垂直放置固定在一水平转台上，将一束待测激光水平入射到垂直放置的干涉镜上；通过有VB语言编程的计算机控制数据采集卡，由数据采集卡控制步进电机带动转台转动，使待测激光对干涉镜的入射角连续匀速改变；通过功率计接收透过干涉镜后的激光并测量激光功率，功率计连续记录待测激光各个入射角对应的透射激光功率；通过所述有VB语言编程的计算机编写界面，显示各个入射角对应的透过激光功率并绘制激光透过率随激光入射角变化的曲线；根据激光透过率随激光入射角变化的曲线得到各个透过率峰值对应的激光入射角角度值，进而由相位差公式计算得出待测激光的波长。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：田兆硕，孙正和，张延超，付石友，孙剑锋，王骐，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学威海，
类型：发明
国别省市：
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