同心测试针制造技术

一种同心测试针，用以检测各式电子回路元件如一电路板的电流导通情形，或作为连接器使用，其包括一套管、一第一针轴、一第二针轴及一弹性体。该第一针轴活动设于该套管的一侧内部，且该第一针轴的一侧设有一第一接触部并凸出于该套管，该第二针轴固设于该套管的另一侧内部，且该第二针轴的一侧设有一第二接触部并凸出于该套管，该第二针轴的另一侧延伸接触该第一针轴以形成一第一电流通路，该弹性体夹设于该第一针轴与该第二针轴之间，并形成一第二电流通路。本实用新型专利技术通过双通路，达到降低电阻的功效，并扩大应用范围，以检测具有大电流的待测件。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术关于电子回路元件探针的改良，尤其是一种具有双电流传导路径以侦测较大电流待测件的同心测试针。
技术介绍
电子设备的电子回路元件于制作完毕后，需进行电性功能的相关测试，以保证出厂的电子回路元件功能上的完整性。电性功能测试是针对电子回路元件的各种电性参数进行测试，其中即有以测试针来检测电子回路元件的电路导通情形。此外，亦常见利用近测试针结构作为连接器如Pogo Pin (是一种应用于手机等电子产品中的精密连接器，广泛应用于半导体设备中，起连接作用)等产品以连接各式电子回路元件。不论是测试针或针状连接器，其构造皆须考量电性通路状态，以及电阻的大小等设计，以下以测试针为例说明。一般来说，是通过一电路测试装置上的测试针来检测一电路板或一主机板等各种电子回路元件的各项电性状况。请参阅图1，现有测试针I是由一外管10、一弹性体11与一探针12组成，该外管10的一侧具有一开口 101，另一侧封闭而与一测试机械或一导线连通，该弹性体11设于该外管内部，该探针12的一侧设有一针头121，另一侧设有一探针轴122，该探针轴122设置于该外管10内部，并与该弹性体11接触而形成通路。测试时，是将该针头121碰触待测物件，使该针头121受力而移动，进而压缩该弹性体，并使产生的电流通过该弹性体11传输至该导线或该测试机械，以得知待测物件的电路导通情形。然而，该现有测试针I由于仅具有单一可供电流传导的路径，因此只能承受较小的电流(约3安培)通过，且该弹性体11多半为弹簧，受其自身形状限制，时有产生接触不良的现象，导致电流无法顺利被侦测到，而影响检测结果。故为了解决上述问题，本技术的专利技术人构思一种具有双电流传导通路，并降低测试针电阻以应用于大电流测试的同心测试针。
技术实现思路
本技术的一目的，旨在提供一种同心测试针，其具有双传导路径，供测试时产生的电流传输，并降低测试针的电阻，以扩大其应用范围，除了应用于一般的IC测试或FT(Final Test)测试，由于其可容许较大的电流量，亦可应用于具有较大电流的电性测试，此外，亦可作为如Pogo Pin等针状连接器使用，以连接各式电子回路元件。为达上述目的，本技术提供一种同心测试针，其，用以检测各式电子回路元件如一电路板的电流导通情形，或作为连接器使用，其包括:一套管，具有一第一出口及一第二出口；—第一针轴，活动设于该第一出口的内部,且该第一针轴的一侧设有一第一接触部而凸出于该套管；一第二针轴，固设于该第二出口的内部，且该第二针轴的一侧设有一第二接触部而凸出于该套管，该第二针轴的另一侧延伸接触该第一针轴以形成一第一电流通路；及一弹性体，夹设于该第一针轴与该第二针轴之间，该弹性体形成一第二电流通路。所述的同心测试针，其中，该第一针轴的另一侧设有一第一凹槽，该第二针轴对应该第一凹槽而设有一第一轴杆，使该第一轴杆活动容置设于该第一凹槽的内部。所述的同心测试针，其中，该第二针轴以铆接或焊接的方式固定于该套管。所述的同心测试针，其中，该第一接触部设有至少一第一尖端，该第二接触部设有至少一第二尖端。所述的同心测试针，其中，该第一尖端及/或该第二尖端呈复数设置时，该多个第一尖端及/或该多个第二尖端呈环状排列。本专利技术还提供一种同心测试针，用以检测各式电子回路元件如一电路板的电流导通情形，或作为连接器使用，其包括:一套管，具有一第一出口及一第二出口；一第一针轴，活动设于该第一出口的内部,且该第一针轴的一侧设有一第一接触部而凸出于该套管；一第二针轴，固设于该第二出口的内部，且该第二针轴的一侧设有一第二接触部而凸出于该套管，该第一针轴的另一侧延伸接触该第二针轴以形成一第一电流通路；及一弹性体，夹设于该第一针轴与该第二针轴之间，该弹性体形成一第二电流通路。 所述的同心测试针，其中，该第一针轴的另一侧设有一第二轴杆，该第二针轴对应该第二轴杆而设有一第二凹槽，使该第一轴杆容置于该第二凹槽的内部。所述的同心测试针，其中，该第一接触部设有多个第一尖端，该第二接触部设有多个第二尖端，且该多个第一尖端及该多个第二尖端呈环状排列设置。所述的同心测试针，其中，该第二针轴以铆接或焊接的方式固定于该套管。所述的同心测试针，其中，该第二针轴一体成型设于该套管的一侧。本技术的有益效果是:具有双传导路径，供测试时产生的电流传输，并降低测试针的电阻，以扩大其应用范围，除了应用于一般的IC测试或FT(Final Test)测试，由于其可容许较大的电流量，亦可应用于具有较大电流的电性测试，此外，亦可作为如Pogo Pin等针状连接器使用，以连接各式电子回路元件。附图说明图1为现有测试针的剖面图；图2为本技术第一实施例第一实施态样的分解图；图3为本技术第一实施例第一实施态样的剖面图；图4为本技术第一实施例第一实施态样的应用图；图5为本技术第一实施例第二实施态样的立体示意图；图6为本技术第二实施例第一实施态样的分解图；图7为本技术第二实施例第一实施态样的剖面图；图8为本技术第二实施例第一实施态样的应用图；图9为本技术第二实施例第二实施态样的剖面图。附图标记说明:
技术介绍
:1_现有测试针；10_外管；101-开口 ； 11-弹性体；12_探针；121-针头；122-探针轴；第一实施例:2_同心测试针；20-套管；201-第一出口 ；202~第二出口 ；21~第一针轴；211_第一接触部；2111_第一尖端；212_第一凹槽；22_第二针轴；221_第二接触部；2211-第二尖端；222_第一轴杆；23_弹性体；3_电路板；第二实施例:4-同心测试针；40_套管；401-第一出口 ；4011_第三尖端；402_第二出口 ；41_第一针轴；411_第一接触部；4111_第一尖端；412_第二轴杆；42_第二针轴；421-第二接触部；4211_第二尖端；422_第二凹槽；43_弹性体；5_电路板。具体实施方式为使贵审查员能清楚了解本技术的内容，仅以下列说明搭配附图，敬请参阅。请参阅图2、图3及图4，其为本技术第一实施例第一实施态样的分解图、剖面图及应用图。本技术的同心测试针2，用以检测各式电子回路元件如一电路板3的电流导通情形，或作为连接器使用，其包括:一套管20、一第一针轴21、一第二针轴22及一弹性体23。该套管20具有一第一出口 201与一第二出口 202，供以保护该第一针轴21、该第二针轴22与该弹性体23。该第一针轴21活动设于该第一出口 201内部，且该第一针轴21的一侧设有一第一接触部211，并凸出于该套管20，其中，该第一接触部211设有至少一第一尖端2111。该第一针轴21的另一侧凹设有一第一凹槽212，以提供该第二针轴22位移的空间。该第二针轴22固设于该第二出口 202内部，且于该第二针轴22的一侧设有一第二接触部221而凸出于该套管20，其中该第二接触部221设有至少一第二尖端2211。该第二针轴22以铆接或焊接的方式固定于该套管20，于本实施例中以焊接为例说明。该第二针轴22相对设置该第二接触部221的一侧延伸接触该第一针轴21而形成一第一电流通路。其中，该第二针轴22对应该第一凹槽212而设有一第一轴杆222，该第一轴杆222可活动设置于该第一凹本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种同心测试针，其特征在于，用以检测电子回路元件的电流导通情形，或作为连接器使用，其包括：一套管，具有一第一出口及一第二出口；一第一针轴，活动设于该第一出口的内部，且该第一针轴的一侧设有一第一接触部而凸出于该套管；一第二针轴，固设于该第二出口的内部，且该第二针轴的一侧设有一第二接触部而凸出于该套管，该第二针轴的另一侧延伸接触该第一针轴以形成一第一电流通路；及一弹性体，夹设于该第一针轴与该第二针轴之间，该弹性体形成一第二电流通路。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：谢健堉，陈威助，游辉哲，
申请(专利权)人：中国探针股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：