用于OLED器件的工作电路及相关器件、设备和方法技术

本发明专利技术提供了一种用于OLED器件的工作电路。本发明专利技术还提供了一种OLED器件，其包括OLED屏体和上述用于OLED器件的工作电路。本发明专利技术还提供了一种显示设备。本发明专利技术还提供了一种照明设备。本发明专利技术还提供了用于修复OLED屏体的方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术总体涉及有机电致发光显示(OLED, Organic ElectroluminescenceDisplay)及照明领域,具体涉及OLED器件的修复领域。
技术介绍
近年来，有机电致发光技术因其诸多优点越来越受到人们的关注，OLED器件被越来越广泛地用于显示和照明。典型的OLED屏体包括阳极、阴极以及布置在阴极和阳极之间的有机层。在OLED器件的工作中，OLED屏体被施加正向电压，使得从阴极向有机层注入电子，从阳极向有机层注入空穴，电子和空穴在有机层中复合形成激子，当激子释放能量时有机层发光。目前的OLED器件包括主动矩阵(active matrix) OLED器件和被动矩阵(passivematrix) OLED器件两种。在被动矩阵OLED器件中，包括一个或多个阴极(当有多个时它们通常彼此平行)及一个或多个阳极(当有多个时它们通常彼此平行)，所述阴极与所述阳极成一个角度，通常成直角。在器件阴极与阳极之间存在有机层。在被动矩阵OLED器件的工作中，每个阴极和每个阳极都可以被单独施加电压，当有交叠区域的阴极与阳极之间存在正向电压时，该交叠区域中的有机层发光。
技术实现思路
OLED屏体中不可避免地常常存在灰尘颗粒、毛刺、针孔、裂纹等缺陷点，而OLED屏体的阳极与阴极之间的间隔通常很小(通常为几百纳米)。结果，在这种缺陷点处，阳极与阴极可能会直接接触，或者阳极与阴极之间的有机层会变得比其他位置薄。当OLED器件工作时，电流更趋于从这种缺陷点处而不是从其他位置通过。使得热量在这种缺陷点处累积(往往表现为亮点)。长此以往，不但会导致单一像素不发光，亦会影响到整条纵列或横排的像素，损害整个OLED器件的品质和可靠性。这种缺陷点在本文中被称为短路点。一般而言，在其他条件相同的情况下，OLED屏体的发光面积越大，出现短路点的可能性也越大。另外，对于具有大像素的OLED器件(例如用于照明的OLED器件，其往往只具有少数几个像素甚至只具有一个像素)，只要短路点缺陷发展到一个像素，就会危及整个OLED器件的功能。通过增大有机层的厚度有可能减少短路点，但这要求OLED器件采用更高的驱动电压从而影响器件效率，而且并不能完全消除短路点。通过加入防护层可能解决短路点问题，但这也要求OLED器件采用更高的驱动电压，而且会增加制备的复杂程度。OLED屏体具有发光二极管的电气特性:当对OLED屏体施加正向电压时，通过OLED屏体的电流随着该正向电压的增大成指数增大，例如图1所示(横坐标表示电压，单位为V ；纵坐标表示电流密度，单位为A/m2);当对OLED屏体施加反向电压时，OLED屏体为截止状态，无电流通过。如果对存在短路点的OLED屏体施加反向电压，则除了短路点处以外的位置均为截止状态，电流集中在短路点处通过，即短路点处存在漏电流。当漏电流达到某一阈值，短路点会被击穿，此后缺陷不再发展。在本文中，“正向”电压指的是，施加于阳极的电压高于施加于阴极的电压，“反向”电压指的是，施加于阴极的电压高于施加于阳极的电压。相应地，“反向”电流指的是从阴极流向阳极的电流。固然短路点在被击穿之后不再发光，从而表现为暗点，但当该暗点与整个OLED屏体的发光面积相比很小时，对总体显示或照明效果的影响也很小，甚至可以忽略不计。因此，在短路点缺陷发展之前，甚至在短路点被人眼或检测设备发现之前，及早修复是有利的。本专利技术的一个方面提供了一种用于OLED器件的工作电路，包括:修复电路，包括:第一供压端子，用于连接到OLED屏体的阳极；以及第二供压端子，用于连接到所述OLED屏体的阴极，用于通过所述第一供压端子和所述第二供压端子对所述OLED屏体施加反向修复电压。在一个实施方案中，上述用于OLED器件的工作电路还包括:检测电路，包括:第三供压端子，用于连接到所述OLED屏体的阳极；以及第四供压端子，用于连接到所述OLED屏体的阴极，用于通过所述第三供压端子和所述第四供压端子对所述OLED屏体施加反向检测电压，并监测由所述反向检测电压引起的反向检测电流的大小。在一个实施方案中，所述第三供压端子与所述第一供压端子是同一端于，并且/或者所述第四供压端子与所述第二供压端子是同一端子。使用该实施方案能够简化电路。在一个实施方案中，上述用于OLED器件的工作电路还包括:正常驱动电路，包括:第五供压端子，用于连接到所述OLED屏体的阳极；以及第六供压端子，用于连接到所述OLED屏体的阴极，用于通过所述第五供压端子和所述第六供压端子对所述OLED屏体施加正常驱动电压。在一个实施方案中，所述第五供压端子与所述第一供压端子是同一端子，并且/或者所述第六供压端子与所述第二供压端子是同一端子。使用该实施方案能够简化电路。在一个实施方案中，上述用于OLED器件的工作电路还包括控制单元，用于控制所述修复电路的启用和/或禁用。在一个实施方案中，上述用于OLED器件的工作电路还包括控制单元，用于判断所述反向检测电流是否大于阈值，并执行:如果所述反向检测电流大于所述阈值，则启用所述修复电路；以及如果所述反向检测电流不大于所述阈值，则禁用所述修复电路。在一个实施方案中，所述控制单元还用于执行:如果所述反向检测电流大于所述阈值，则禁止对所述OLED屏体施加正常驱动电压；以及如果所述反向检测电流不大于所述阈值，则允许对所述OLED屏体施加正常驱动电压。本专利技术的另一方面提供了一种OLED器件，包括:OLED屏体，包括:阳极；阴极；和有机层，其位于所述阳极与所述阴极之间；以及根据前述实施方案之一所述的用于OLED器件的工作电路。使用该实施方案能够得到自身带有修复功能的OLED器件。一方面，这简化了 OLED器件的修复操作，允许不必外接修复电路就能对OLED器件进行修复，以及允许不具备相应专门技能的用户在家中对OLED器件进行修复。另一方面，这有利于OLED器件的及时修复，例如允许短路点在被人眼或检测设备发现之前及早得到修复，从而延长OLED器件的使用寿命。在一个实施方案中，上述OLED器件是被动矩阵OLED器件。本专利技术的另一方面提供了一种显示设备，包括根据前述实施方案之一所述的OLED器件。本专利技术的另一方面提供了一种照明设备，包括根据前述实施方案之一所述的OLED器件。本专利技术的另一方面提供了一种用于修复OLED屏体的方法，包括:对所述OLED屏体施加反向修复电压。在一个实施方案中，该方法是使用根据前述实施方案之一所述的用于OLED器件的工作电路执行的。本专利技术的另一方面提供了一种用于修复OLED屏体的方法，包括:对OLED屏体施加反向检测电压；监测由所述反向检测电压引起的反向检测电流的大小；以及如果所述反向检测电流大于阈值，则对所述OLED屏体施加反向修复电压。在一个实施方案中，上述用于修复OLED屏体的方法还包括:在对所述OLED屏体施加反向修复电压之后，再次对所述OLED屏体施加反向检测电压，如此重复，直到所述反向检测电流不大于所述阈值为止。在一个实施方案中，该方法是使用根据前述实施方案之一所述的用于OLED器件的工作电路执行的。附图说明通过下文结合附图的详细说明，将更好地理解本专利技术。在附图中:图1例示了 OLED屏体在施加正向电压时的电压-电流曲线图。图2是存在短路点的OLED屏体的示本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于OLED器件的工作电路，包括：修复电路，包括：第一供压端子，用于连接到OLED屏体的阳极；以及第二供压端子，用于连接到所述OLED屏体的阴极，用于通过所述第一供压端子和所述第二供压端子对所述OLED屏体施加反向修复电压。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邱勇，张国辉，董艳波，李艳蕊，
申请(专利权)人：昆山维信诺显示技术有限公司，清华大学，北京维信诺科技有限公司，
类型：发明
国别省市：