次品回收装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种次品回收装置，其包括：用于提取工件的吸盘组件、及收容工件的料架，所述吸盘组件可作动地将高度差不符合预设值工件移动至料架。与现有技术相比，本发明专利技术提供的次品回收装置结构简单，提取工件效率高，同时可适应性配合高度测量后工件提取，可定制性强。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量装置，尤其涉及一种高度差测量装置用次品回收装置。
技术介绍
在工件生产或者检测过程中，经常需要测量其某些平面之间的高度差，据此高度差来判断该工件是否符合要求，假如该高度差超过了预设数值范围，则判断该工件为不合格工件。常见的测量方法是:分别测量出两平面相对于基准平面的距离，然后求出两个数差值的方法来测量。采用该测量方法的高度差测量装置，在待测工件数量过大时，通常采用将工件置于流水线，并将该流水线与此次品回收装置配合以实现大批量测量，因此将流水线上测出的不合格工件实时的提取出次高度差测量装置的测量工位是十分必要的，则需要针对高度差测量装置适配 次品回收装置。现有的次品回收装置，结构过于复杂，在完成高度差测量后，无法及时不合格工件提取出工位并复位。因此，有必要提出一种新的次品回收装置来解决上述问题。
技术实现思路
本专利技术提供了一种可以及时将高度测量不合格的工件提取出工位的次品回收装置。为达到上述专利技术目的，本专利技术提供了一种次品回收装置，其包括:用于提取工件的吸盘组件、及收容工件的料架，所述吸盘组件可作动地将高度差不符合预设值工件移动至料架。作为本专利技术的进一步改进，所述次品回收装置还包括导轨结构，所述吸盘组件设置于所述导轨结构的导轨上以随导轨移动。作为本专利技术的进一步改进，所述导轨结构包括第一导轨、及设置于第一导轨上的第二导轨、及设置于第二导轨上的第三导轨，所述吸盘组件设置于第三导轨。作为本专利技术的进一步改进，所述料架连接有下拉构件，所述下拉构件带动料架向下移动。作为本专利技术的进一步改进，所述下拉构件包括电动下拉件。作为本专利技术的进一步改进，所述料架周侧设置有传感器，以检测料架中是否存有工件。作为本专利技术的进一步改进，所述次品回收装置包括基台，所述传感器设置于所述基台，以测定料架相对于基台固定高度的区域是否有工件。作为本专利技术的进一步改进，所述基台设置有限位开孔，所述料架连接有限位件，所述限位件穿置于所述限位开孔以使料架相对于基台水平方向保持稳定。作为本专利技术的进一步改进，所述料架包括底盘、及设置于底盘两侧的支撑壁，所述支撑壁设置有至少两个相对应的料架收容槽以收容工件。作为本专利技术的进一步改进，所述支撑壁包括相对设置的第一支撑壁与第二支撑壁，所述第一支撑壁长度比第二支撑壁长度长。与现有技术相比，本专利技术提供的次品回收装置结构简单，提取工件效率高，同时可适应性配合高度测量后工件提取，可定制性强。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的有关本专利技术的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术一实施例中高度差测量装置的立体图；图2为图1所示的高度差测量装置的测量探头装置与流水线配合的示意图；图3为图2所示的测量探头装置的立体图；图4为图3所示的测量探头装置中传感器探头的立体图；图5为图1所示的高度差测量装置的次品回收装置与测量探头装置配合的立体图；图6为图5所示的次品回收装置中吸盘组件与工件的组合示意图；图7为图5所示的次品回收装置中料架与基台的组合示意图；图8为图5所示的次品回收装置中料架与下拉构件的组合示意图；图9为图8所示的料架中第一支撑壁的立体图；图10为图8所示的料架中第二支撑壁的侧视图；图11为图1所示的高度差测量装置中方钢支撑架示意图；图12为图1所示的高度差测量装置中组合式电脑支架的立体图；图13为图1所示的高度差测量装置中电箱的立体图。具体实施例方式以下将结合附图所示的各实施例对本专利技术进行详细描述。但这些实施例并不限制本专利技术，本领域的普通技术人员根据这些实施例所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本专利技术的保护范围内。参图1与图5所示，本专利技术提供的高度差测量装置100，其包括测量探头装置10，用以测量工件200表面高度差以判断工件200表面高度差是否符合预设值；次品回收装置，其可作动地将高度差不符合预设值工件200提取出来以防止不合格工件流出至合格区。参图1、图2与图5所示，高度差测量装置100还包括与之配合的流水线91，所述流水线91间隔分布待测工件200，待测工件200进入工位后，测量探头装置10针对该工件进行高度差测量，测量完后判断工件200表面高度差是否符合预设值，若是，流水线91启动，并带动工件200进入下一站；若否，启动次品回收装置，使工件200脱离流水线91。具体的，测量探头装置10对工件200的两个不同表面测定高度差，优选的，针对这两个表面分别测定六次，从而编成六组数据，通过比对这六组数据以确定工件200的高度差是否符合预设值，以尽可能的减小测定区域所造成的测量错误，降低测量误差，提高了测定精度。参图3所示，测量探头装置10包括传感器探头11、及带动前述传感器探头11移动的吊臂12，具体的，吊臂12包括第一吊臂121、及设置于第一吊臂121上的可相对于第一吊臂121移动的第二吊臂122，所述传感器探头11设置于第二吊臂122上。其中，第一吊臂121的移动方向与第二吊臂122相对于第一吊臂121的移动方向相同，具体的，第一吊臂121带动第二吊臂122以及设置于第二吊臂122上的传感器探头11向上或向下移动；并且，第二吊臂122带动传感器探头11相对于第一吊臂121向上或向下移动，即第一吊臂121的移动方向与第二吊臂122相对于第一吊臂121的移动方向相同。特别的，第一吊臂121设置有导引凸部1211，第二吊臂122设置有与导引凸部1211对应的导引凹槽(未图示)，第二吊臂122通过其导引凹槽(未图示)夹持第一吊臂121的导引凸部1211以使第二吊臂122相对于第一吊臂121移动。同时，测量探头装置10连接有电控制件(未图示)，以控制传感器探头11位移，实现测量的自动化。优选的，吊臂12都采用金属材料制成，保证测量精度的同时，延长了整个高度差测量装置100的使用寿命。采用第一吊臂121与第二吊臂122组合形成吊臂12，可以减小单次测量过程中，吊臂12的就位以及复位时间，降低了测量时间，提高了测量效率。参图4所示，本专利技术的高度差测量装置100中的传感器探头11，其包括主体部112、及设置于主体部112前端的探头部111、及设置于主体部112后端的安装部113，传感器探头11通过安装部113固定于前述吊臂12的第二吊臂122上，具体的，安装部113包括一圆柱。其中，主体部112为金属材质，优选的，采用铜材料制备主体部112 ;探头部111采用塑胶材料制成，优选的，采用尼龙材料制备探头部111。具体的，传感器探头11为位移传感器。采用尼龙材料制备探头部111，可以在测量探头装置10测定工件200表面高度差时，防止碰撞损坏工件200，保证了工件200的质量；同时采用金属材质制造传感器探头主体部112，保证了传感器探头11的稳定性，提高了测量探头11的使用寿命。参图5与图6所示，本专利技术的高度差测量装置100中，测量探头装置10完成对工件200的测定之后，当工件的待测的两个表面的高度差不符合预设值，则次品回收装置将该工件200自流水线上的工位提取出来并收容，以便于后期对不合格工件200的重新加工。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种次品回收装置，其特征在于，该次品回收装置包括：用于提取工件的吸盘组件、及收容工件的料架，所述吸盘组件可作动地将高度差不符合预设值工件移动至料架。

【技术特征摘要】
1.一种次品回收装置，其特征在于，该次品回收装置包括: 用于提取工件的吸盘组件、及收容工件的料架，所述吸盘组件可作动地将高度差不符合预设值工件移动至料架。2.如权利要求1所述的次品回收装置，其特征在于，所述次品回收装置还包括导轨结构，所述吸盘组件设置于所述导轨结构的导轨上以随导轨移动。3.如权利要求1所述的次品回收装置，其特征在于，所述导轨结构包括第一导轨、及设置于第一导轨上的第二导轨、及设置于第二导轨上的第三导轨，所述吸盘组件设置于第三导轨。4.如权利要求1所述的次品回收装置，其特征在于，所述料架连接有下拉构件，所述下拉构件带动料架向下移动。5.如权利要求4所述的次品回收装置，其特征在于，所述下拉构件包括电动下拉件。6.如权利要求1所述的次品回...

【专利技术属性】
技术研发人员：李佳，
申请(专利权)人：苏州工业园区高登威科技有限公司，
类型：发明
国别省市：