粉末比电阻测定仪铜电极片制造技术

本实用新型专利技术提供了一种粉末比电阻测定仪铜电极片，包括料筒，位于料筒两端的电极，位于料筒中部的两个电极片，所述料筒外部设有绝缘部，所述电极片的一端伸出绝缘部外。本实用新型专利技术的粉末比电阻测定仪铜电极片，在料筒的外部加固一层绝缘材料，使两铜片露在外面，且让大部分铜片位于绝缘材料内，这样即延长了料筒的使用寿命，也降低了成本。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种电极，尤其是一种粉末比电阻测定仪铜电极片。
技术介绍
粉末比电阻测定仪的料筒是在测定煅后焦粉末比电阻时使用；粉末比电阻又是衡量煅后焦质量的重要指标。因此，料筒的使用频率很高，而料筒的两个铜电极片又很薄，进行实验时，铜电极片上要夹导电夹，长期高频率的使用会使铜片折断，也无法进行维修，导致整个料筒无法使用，多次更换料筒增加了维修成本。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种粉末比电阻测定仪铜电极片。实现本技术目的的粉末比电阻测定仪铜电极片，包括料筒，位于料筒两端的电极，位于料筒中部的两个电极片，所述料筒外部设有绝缘部，所述电极片的一端伸出绝缘部外。所述绝缘部为缠绕在料筒外部的绝缘胶带。所述绝缘部为套在料筒外部的可拆卸的绝缘模具套。本技术的粉末比电阻测定仪铜电极片的有益效果如下:本技术的粉末比电阻测定仪铜电极片，在料筒的外部加固一层绝缘材料，使两铜片露在外面，且让大部分铜片位于绝缘材料内，这样即延长了料筒的使用寿命，也降低了成本。附图说明图1为本技术的粉末比电阻测定仪铜电极片的结构示意图。具体实施方式本技术的实施例如下:如图1所示，本技术的粉末比电阻测定仪铜电极片，包括料筒I，位于料筒I两端的电极2，位于料筒I中部的两个电极片3，所述料筒I外部设有绝缘部4，所述电极片3的一端伸出绝缘部4外。所述绝缘部4为缠绕在料筒外部的绝缘胶带。所述绝缘部4也可为套在料筒外部的可拆卸的绝缘模具套。本技术的粉末比电阻测定仪铜电极片对料筒进行加固改造，即:在料筒上缠绕一定厚度的绝缘胶带，使裸露在外部的铜电极片的绝大部分埋入绝缘胶带内，外露一小部分刚好可以用导电夹夹住，这样就保证了铜电极片可以高频率使用，同时，保证分析任务的及时性及真实性。上面所述的实施例仅仅是对本技术的优选实施方式进行描述，并非对本技术的范围进行限定，在不脱离本技术设计精神前提下，本领域普通工程技术人员对本技术技术方案做出的各种变形和改进，均应落入本技术的权利要求书确定的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种粉末比电阻测定仪铜电极片，其特征在于：包括料筒，位于料筒两端的电极，位于料筒中部的两个电极片，所述料筒外部设有绝缘部，所述电极片的一端伸出绝缘部外。

【技术特征摘要】
1.一种粉末比电阻测定仪铜电极片，其特征在于:包括料筒，位于料筒两端的电极，位于料筒中部的两个电极片，所述料筒外部设有绝缘部，所述电极片的一端伸出绝缘部外。2.根据权利要求1所述的粉...

【专利技术属性】
技术研发人员：祁喜寿，李琴，宋宁，李小梅，高军宁，
申请(专利权)人：青海桥头铝电股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：