一种缓存锁定功能的测试方法和装置制造方法及图纸

技术编号:8765312 阅读:172 留言:0更新日期:2013-06-07 22:31
本发明专利技术公开了一种缓存锁定功能的测试方法和测试装置,所述方法包括:向缓存中读入小于缓存容量的第一数据,并锁定所述第一数据在该缓存中;向缓存中读入大于缓存容量的第二数据,并确定实际读入所述缓存的第三数据;向缓存中读入大于缓存容量的第四数据,并确定实际读入所述缓存的第五数据;根据所述第五数据以及所述第一数据,确定判定该缓存锁定功能是否失效。本发明专利技术通过将第一数据锁定在缓存中,通过其他的数据来挤兑缓存中的锁定数据,从而来检测该缓存锁定的功能,以用来测试被锁住的数据是否会被新数据挤出缓存。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种缓存锁定功能的测试方法,其特征在于,包括:向缓存中读入小于缓存容量的第一数据,并锁定所述第一数据在该缓存中;向缓存中读入大于或者等于缓存容量的第二数据,并确定实际读入所述缓存的第三数据;向缓存中读入大于或者等于缓存容量的第四数据,并确定实际读入所述缓存的第五数据;根据所述第五数据以及所述第一数据,判定该缓存锁定功能是否失效。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:凌明
申请(专利权)人:青岛中星微电子有限公司
类型:发明
国别省市:

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