结构可变的模块化中子检测装置制造方法及图纸

技术编号:8764498 阅读:271 留言:0更新日期:2013-06-07 18:44
本发明专利技术涉及中子测量技术,具体涉及一种结构可变的模块化中子检测装置。其结构包括可相互组合的若干个片状探测单元,每个探测单元包括探测体和位于探测体上端的电子学盒;所述探测体为内部嵌有多根3He正比计数管的聚乙烯板,电子学盒内设有与3He正比计数管相连接的前放电子学模块和电源模块。本发明专利技术可以任意组成合适的结构,满足对不同体积样品的测量需求,其结构紧凑,体积小,重量轻,便于携带。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种结构可变的模块化中子检测装置,其特征在于:包括可相互组合的若干个片状探测单元,每个探测单元包括探测体和位于探测体上端的电子学盒(1);所述探测体为内部嵌有多根3He正比计数管(3)的聚乙烯板(2),电子学盒(1)内设有与3He正比计数管(3)相连接的前放电子学模块和电源模块。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:蒙延泰祝利群尹洪河王效忠卢文广柏磊贾向军顾少刚邵婕文王勉
申请(专利权)人:中国原子能科学研究院
类型:发明
国别省市:

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