关联于安规认证的测试系统及其方法技术方案

一种关联于安规认证的测试系统及其方法。本发明专利技术主要是事先建立可以让待测电路板通过电磁干扰安规认证与静电放电安规认证的两组验证参数，藉以在对待测电路板进行电磁干扰(EMI)测试或静电放电(ESD)测试时，据以将待测电路板的某些功能模块上的遮蔽壳体与某些连接器的连接铁壳在适当的时机导接或者不导接至系统接地。由此，不但可确保待测电路板能够通过安规认证，而且还可以避免待测电路板上的电子元件免于受到电磁干扰(EMI)测试或静电放电(ESD)测试的影响而损坏。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种关联于安规认证的测试系统，包括：一待测电路板，包括：多个功能模块，配置在该待测电路板上；多个遮蔽壳体，分别位于该些功能模块上以遮蔽对应的功能模块；以及多个连接器，各自具有一连接铁壳；一控制板，包括：多个开关，该些开关的部分各自耦接于该些遮蔽壳体与一系统接地之间，而其余开关则各自耦接于该些连接铁壳与该系统接地之间；以及一控制芯片，耦接该些开关，用以反应于一第一验证参数而导通该些开关中的一第一部分；以及一参数供应端，耦接该控制芯片，用以提供该第一验证参数至该控制芯片。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林育达，庄铭维，
申请(专利权)人：金宝电子工业股份有限公司，泰金宝电通股份有限公司，
类型：发明
国别省市：