H型测力构架的侧滚载荷测试结构制造技术

本发明专利技术提供一种H型测力构架的侧滚载荷测试结构，包括一套由规格相同的第十三、十四、十七以及十八应变片组成的侧滚载荷全桥电路，所述的第十三应变片与第十四应变片均粘贴于构架右侧梁下盖板中心位置的侧梁底面中性层位置，所述的第十七应变片与第十八应变片均粘贴于构架左侧梁下盖板中心位置的侧梁底面中性层位置。采用本发明专利技术提供的测试结构，不仅可以得到施加于构架结构的载荷与输出电压的关系，同时得到施加于构架结构的载荷与构架结构疲劳损伤关键部位应变的准静态关系。解决了传统载荷直接测试法中测得的载荷与构架结构疲劳损伤关键部位应变之间呈动态关系的问题。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种H型测力构架的侧滚载荷测试结构，其特征在于：包括一套由规格相同的第十三、十四、十七以及十八应变片(13、14、17、18)组成的侧滚载荷全桥电路，其中：所述的第十三应变片(13)与第十四应变片(14)均粘贴于构架右侧梁(94)下盖板中心位置的侧梁底面中性层位置，所述的第十七应变片(17)与第十八应变片(18)均粘贴于构架左侧梁(93)下盖板中心位置的侧梁底面中性层位置；其中第十四应变片(14)和第十八应变片(18)沿构架纵向粘贴，第十三应变片(13)和第十七应变片(17)沿构架横向粘贴。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李强，刘志明，孙守光，任尊松，谢基龙，
申请(专利权)人：北京交通大学，
类型：发明
国别省市：