【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种大口径大径厚比反射镜面形自准直检测装置，其特征在于所述自准直检测装置包括：光源、聚光镜、分划板、分光镜、转折镜、物镜、面形支撑调整机构、一维旋转基座、电耦合器件，光源与聚光镜光轴同轴，聚光镜放置在光源的传播方向，分划板放在光源的像平面处，分光镜放置在分划板之后，光源提供的参考光经分光镜反射后向右传播至转折镜，物镜放置在转折镜之后，物镜和参考光的光轴同轴，参考光入射到被测反射镜后经反射先后经物镜、转折镜、分光镜后向左传播至电耦合器；一维旋转基座承载面形支撑调整机构，被测反射镜位于面形支撑调整机构上，面形支撑调整机构对被测反射镜进行局部调整，用以实现对被测反射镜在水平面内的平移和绕竖直轴的一维旋转，进而实现对被测反射镜的整个面形的扫描测量。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：曹雷，陈洪斌，邱琪，任戈，亓波，陈兴龙，温正明，
申请(专利权)人：中国科学院光电技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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