一种面板测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及平板显示技术领域，尤其涉及一种面板测试装置。该面板测试装置包括承载平台及设置于所述承载平台上的多个第一探针，相邻所述第一探针之间具有一第三间距，相邻两第一探针在所述第一探针的分布方向上具有一第四间距，且所述第三间距大于所述第四间距。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及平板显示
，尤其涉及一种面板测试装置。
技术介绍
电容式触摸面板由于具有多点触控、透过率高、使用寿命长等优点，日益取代传统电阻式触摸面板，在手机、播放器、电子书、上网本、个人数字助理、平板电脑上使用。现有的电容式触摸面板包括基板及设置于基板表面的多条第一感应电极串列、多条第二感应电极串列。所述多条第一感应电极串列相互平行并均沿一第一方向如X方向延伸，所述多条第二感应电极串列相互平行并沿一第二方向如Y方向延伸；所述多条第一感应电极串列分别与多条第二感应电极串列相互交叉并形成多个交叉点。所述多条第一感应电极串列连续分布，并在所述交叉点处将所述多条第二感应电极串列隔断为多个第二感应电极单元。所述电容式触摸面板还包括多个绝缘块及多个桥结构。所述多个绝缘块与所述交叉点一一对应，并覆盖所述第一感应电极串列位于所述交叉点处的那一部分。所述多个桥结构与所述多个绝缘块一一对应，且所述桥结构设置于所述绝缘块上，用于连接同一第二感应电极串列上两相邻的第二感应单元。所述电容式触摸面板还包括与所述多条第一感应电极串列电性连接的多条第一引线、与所述多条第二感应电极串列相连的多条第二引线。所述多条第一引线的一端分别于所述多条第一感应电极串列相连，另一端汇集于所述基板表面的一侧，形成一第一连接端子；所述多条第二引线的一端分别与所述多条第二感应电极串列相连，另一端汇集于基板表面的另一侧，形成一第二连接端子，或者其另一端汇集于所述第一连接端子。由于第一感应电极串列和第二感应电极串列的数量较多，使得分别与其连接的第一引线和第二引线的数量也较多，而电容式触摸面板的尺寸通常为3、3.5、3.7、4寸等，在如此有限的区域内需要设置如此多的第一引线和第二引线，使得汇集于第一连接端子(或第二连接端子)的第一引线和第二引线(或第二引线)之间的间距相当小，通常为0.2_。在电容式触摸面板制作完所述第一感应电极串列、第二感应电极串列及第一引线和第二引线后，通常需要对该电容式触摸面板进行测试，以确定该电容式触摸面板是否存在断线或短路等缺陷。业界目前采用测试设备通过探针方式将所述第一引线、第二引线与测试设备连接。由于所述探针排列成一排，每一探针均具有一定尺寸，且每一探针必须与一第一引线或第二引线对应，因此，相邻探针之间的间距非常小，造成测试人员难以将所述探针与所述第一连接端子或第二连接端子上的第一引线或第二引线进行对位接触，即测试人员可能需要花费大量时间来对探针与第一引线或第二引线进行对位接触，加大了测试人员的劳动强度且不利于太高生产效率，同时也容易因所述探针与第一引线或第二引线对位不准确，使所述测试设备作出错误判断，将良品判定为残次品。
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种可有效提高生产效率、降低劳动强度及有助于降低误判几率的面板测试装置。一种面板测试装置包括承载平台及设置于所述承载平台上的多个第一探针，相邻所述第一探针之间具有一第三间距，相邻两第一探针在所述第一探针的分布方向上具有一第四间距，且所述第三间距大于所述第四间距。本技术提供的所述面板测试装置中，所述承载平台具有一第二表面，所述第二表面为光滑且平整的矩形，所述承载平台上还设有多个第一收容空间，该多个第一收容空间分别用于收容和固定所述多个第一探针。本技术提供的所述面板测试装置中，所述面板测试装置用于测试一面板结构，该面板结构包括具有一表面光滑且平整的第一表面的基板、设置于所述基板上的多条第一功能线及多条第一引线，所述第一表面具有功能区域和周边区域，所述第一功能线设置于所述功能区域内，且多条第一功能线之间平行等间隔分布；所述第一引线设置于所述周边区域上，所述周边区域围绕所述功能区域。本技术提供的所述面板测试装置中，所述周边区域至少包括一第一周边子区域，该第一周边子区域位于所述功能区域的一侧，且其靠近所述功能区域的一侧具有一第一边缘，所述第一引线包括与所述第一功能线连接的第一部分和汇集于所述第一周边子区域上的第二部分，所述第二部分沿一第一方向平行等间隔分布，相邻两第二部分之间具有第一间距，所述第二部分在第一方向上具有一第一跨度。本技术提供的所述面板测试装置中，所述第一表面与所述第二表面相对，所述第一边缘与第二边缘平行，所述面板测试装置还包括一调节模块，所述调节模块用于调整所述承载平台，以改变所述第一表面和第二表面之间的第一间距，使所述第一探针与所述第一引线的第二部分接触。本技术提供的所述面板测试装置中，所述第一收容空间沿所述第二边缘延伸方向分布，且相邻来那个第一收容空间与所述第二边缘的间距不相同，相间的两第一收容空间与所述第二边缘之间的间距可以相同，也可以不相同。本技术提供的所述面板测试装置中，所述第一探针整体呈棒状，其一端收容于所述第一收容空间并通过一外部电极线与一中央处理装置相连，另一端为面向所述第一表面的自由端。本技术提供的所述面板测试装置中，所述第一探针在所述第二边缘延伸方向上具有第二跨度，相间两所述第一探针之间具有第五间距，所述第三间距大于所述第四间距和第二跨度之和，所述第五间距大于所述第四间距。本技术提供的所述面板测试装置中，所述第一跨度等于第二跨度，第一间距等于第四间距。本技术提供的所述面板测试装置中，所述第一探针通过一弹性元件收容于所述第一收容空间，且所述第一探针在接触所述面板结构的所述第一引线的第二部分时，可向所述第一收容空间方向收缩，并在所述第一探针与第二部分结束接触时，所述第一探针向其自由端扩展。本技术提供的所述面板测试装置的第一探针分别与所述面板结构的第一引线的第二部分接触，并所述第一探针分别通过一外部电极线与所述中央处理装置相连，以向所述面板结构施加或收集所述面板结构的电信号，进而测试所述面板结构是否存在短路或断路等缺陷。本技术提供的面板测试装置通过将所述第一探针进行错位设置，进而可以有效增大所述第一探针在第二边缘延伸方向上的第二跨度，使第二跨度大于所述第一跨度，可有效克服相邻两第一探针之间的间距过小、需要长时间对位的缺陷，可大大提高测试的准确性及极大地降低测试人员的劳动强度。同时，由于相邻两所述第一探针之间的第三间距N大于所述第四间距d，可以有效减少更换所述第一探针的时间，提高生产效率。附图说明下面将结合附图及实施例对本技术作进一步说明，附图中:图1为一较佳实施方式的面板测试装置测试使用的面板结构的示意图。图2为一较佳实施方式的面板测试装置的仰视示意图。图3为图2所示的面板测试装置测试图1所示的面板结构的示意图。图4为另一较佳实施方式的面板测试装置的仰视示意图。具体实施方式为了说明本技术提供的面板测试装置，以下结合说明书附图对本技术进行详细阐述。请参阅图1，其为本技术提供的一较佳实施方式的面板测试装置测试的面板结构的示意图。所述面板测试装置用于测试一面板结构200，该面板结构200至少包括基板210、设置于基板210上的多条第一功能线211、多条第一引线212。所述基板210具有光滑且平整的第一表面213，且第一表面213具有功能区域213a和周边区域213b，所述功能区域213a与所述周边区域213b相邻，所述周边区域213b围绕所述功能区域213a。在本实施方式中，所述功能本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种面板测试装置，其特征在于，该面板测试装置包括承载平台及设置于所述承载平台上的多个第一探针，相邻所述第一探针之间具有一第三间距，相邻两第一探针在所述第一探针的分布方向上具有一第四间距，且所述第三间距大于所述第四间距。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王士敏，陈雄达，吕成凤，钟荣苹，商陆平，李绍宗，
申请(专利权)人：深圳莱宝高科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：